[发明专利]填充物位测量装置、拓扑确定方法及可读介质有效
| 申请号： | 201580079018.8 | 申请日： | 2015-04-01 |
| 公开（公告）号： | CN107534203B | 公开（公告）日： | 2020-07-14 |
| 发明（设计）人： | 罗兰·韦勒;斯特芬·瓦尔德;卡尔·格里斯鲍姆 | 申请（专利权）人： | VEGA格里沙贝两合公司 |
| 主分类号： | H01Q1/22 | 分类号： | H01Q1/22;G01F23/284;G01S13/89 |
| 代理公司： | 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 11290 | 代理人： | 曹正建;陈桂香 |
| 地址： | 德国沃*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明涉及用于检测填充材料表面的拓扑的物位雷达的天线组件。天线组件包括多个辐射元件的布置结构，辐射元件被设计成用于发射和/或接收电磁测量信号。相邻元件之间的距离为不等距，并且两个元件之间的最小距离可对应于电磁测量信号的波长的一半。 | ||
| 搜索关键词： | 填充物 测量 装置 拓扑 确定 方法 可读 介质 | ||
【主权项】：
一种用于物位雷达(105)的天线组件，所述物位雷达通过借助电磁测量信号对填充材料表面(104)进行采样来检测所述填充材料表面的拓扑，所述天线组件包括：多个元件(202)的布置结构，所述元件被构造成用于发射和/或接收所述电磁测量信号，其中，相邻的所述元件之间的距离(302、303)为不等距。
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