[发明专利]填充物位测量装置、拓扑确定方法及可读介质

权利要求书

1.一种填充物位测量装置(105)，所述填充物位测量装置包括天线组件，所述天线组件通过借助电磁测量信号对填充材料表面(104)进行采样来检测所述填充材料表面的拓扑，所述天线组件包括：

多个元件(202)的布置结构，所述元件被构造成用于发射和/或接收所述电磁测量信号，其中，相邻的所述元件之间的距离(302、303)为不等距；

评估单元(111)；

其中，所述天线组件的所述元件(202)包括由第一元件组成的第一子组(402)和由第二元件组成的第二子组(403)；

其中，所述第一元件彼此之间具有第一距离(302)；

其中，所述第二元件彼此之间具有第二距离(303)，所述第二距离大于所述第一距离；

其中，所述评估单元被构造成用于根据由所述第一子组在特定目标角度下检测的所述测量信号来形成第一回波曲线(1001)；

其中，所述评估单元被构造成用于根据由所述第二子组在所述特定目标角度下检测的所述测量信号来形成第二回波曲线(1002)；

其中，所述评估单元被构造成用于建立包络函数(1003)，所述包络函数包络在所述目标角度下形成的所述第一回波曲线和所述第二回波曲线的最小值；

其中，所述评估单元被构造成用于根据所述包络函数来确定所述填充材料表面的拓扑点。

2.如权利要求1所述的填充物位测量装置，其中，两个相邻的所述元件之间的最小距离小于或等于所述电磁测量信号的波长的一半。

3.如权利要求1或2所述的填充物位测量装置，其中，不等距地布置的所述元件(202)形成一维线性阵列。

4.如权利要求1或2所述的填充物位测量装置，其中，不等距地布置的所述元件(202)布置在二维平面(801、902)中。

5.如权利要求4所述的填充物位测量装置，

其中，所述二维平面被划分为多个虚拟行(204)和与所述虚拟行正交的多个虚拟列(205)，并且每个所述元件在所述二维平面中的位置通过界定的行位置和列位置唯一地确定，

其中，所述行具有不同数量的所述元件。

6.如权利要求5所述的填充物位测量装置，其中，所述列(205)具有不同数量的所述元件。

7.如权利要求4所述的填充物位测量装置，

其中，所述二维平面(801)被划分为多个虚拟带(802)，并且所述带在所述平面上具有共同的质心，

其中，一个所述带通过围绕所述质心旋转而映射在所述平面中的另一个所述带上，

其中，所述带具有不同数量的所述元件(202)。

8.如权利要求1或2所述的填充物位测量装置，其中，以不等距的方式布置的相邻的所述元件之间的距离(302、303、304)中的每个距离对应于所述电磁测量信号的波长的一半的整数倍。

9.如权利要求1或2所述的填充物位测量装置(105)，其中，所述天线组件(109)安装到天线支架(108)，并且所述天线支架预先确定旋转轴线(110)，

其中，所述天线支架具有驱动单元，

其中，所述驱动单元被设计成用于使所述天线组件围绕所述旋转轴线旋转。