[发明专利]荷电粒子线装置及扫描电子显微镜有效

专利信息
申请号: 201580074860.2 申请日: 2015-12-03
公开(公告)号: CN107430971B 公开(公告)日: 2018-11-09
发明(设计)人: 熊本和哉;松田定好 申请(专利权)人: 松定精度株式会社
主分类号: H01J37/141 分类号: H01J37/141;H01J37/20;H01J37/28
代理公司: 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 代理人: 许志勇;王宁
地址: 日本国滋贺*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: [课题]期望提升荷电粒子线装置的性能。[解决手段]一种荷电粒子线装置具备:荷电粒子源11;加速电源14,设置来加速从该荷电粒子源11射出的荷电粒子线12,并连接于该荷电粒子源11;及物镜透镜26,将该荷电粒子线12聚焦于试料23。物镜透镜26相对于试料23,设置于该荷电粒子线12的入射侧的相反侧;且形成该物镜透镜26的磁极具有:中心磁极26a,其中心轴与该荷电粒子线12的理想光轴一致;上部磁极26b;筒形的侧面磁极26c;及圆盘形状的下部磁极26d;其中,靠近于该中心磁极26a的试料23侧的上部中,该上部附近的径为较小的形状,该中心磁极26a的下部为圆柱形状;该上部磁极26b为中心形成圆形的开口部的磁极,且为于朝向中心的盘状的靠近该中心磁极的中心侧较薄的圆盘形状。
搜索关键词: 粒子 线装 扫描 电子显微镜
【主权项】:
1.一种荷电粒子线装置,具备:荷电粒子源;加速电源,设置来加速从所述荷电粒子源射出的荷电粒子线,并连接于所述荷电粒子源;物镜透镜,相对于试料,设置于所述荷电粒子线的入射侧的相反侧,将所述荷电粒子线聚焦于试料;绝缘板,配置于所述物镜透镜上;及导电性试料台,配置于所述绝缘板上;其中,所述物镜透镜及所述导电性试料台为绝缘。
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