[发明专利]荷电粒子线装置及扫描电子显微镜有效
申请号: | 201580074860.2 | 申请日: | 2015-12-03 |
公开(公告)号: | CN107430971B | 公开(公告)日: | 2018-11-09 |
发明(设计)人: | 熊本和哉;松田定好 | 申请(专利权)人: | 松定精度株式会社 |
主分类号: | H01J37/141 | 分类号: | H01J37/141;H01J37/20;H01J37/28 |
代理公司: | 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 | 代理人: | 许志勇;王宁 |
地址: | 日本国滋贺*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | [课题]期望提升荷电粒子线装置的性能。[解决手段]一种荷电粒子线装置具备:荷电粒子源11;加速电源14,设置来加速从该荷电粒子源11射出的荷电粒子线12,并连接于该荷电粒子源11;及物镜透镜26,将该荷电粒子线12聚焦于试料23。物镜透镜26相对于试料23,设置于该荷电粒子线12的入射侧的相反侧;且形成该物镜透镜26的磁极具有:中心磁极26a,其中心轴与该荷电粒子线12的理想光轴一致;上部磁极26b;筒形的侧面磁极26c;及圆盘形状的下部磁极26d;其中,靠近于该中心磁极26a的试料23侧的上部中,该上部附近的径为较小的形状,该中心磁极26a的下部为圆柱形状;该上部磁极26b为中心形成圆形的开口部的磁极,且为于朝向中心的盘状的靠近该中心磁极的中心侧较薄的圆盘形状。 | ||
搜索关键词: | 粒子 线装 扫描 电子显微镜 | ||
【主权项】:
1.一种荷电粒子线装置,具备:荷电粒子源;加速电源,设置来加速从所述荷电粒子源射出的荷电粒子线,并连接于所述荷电粒子源;物镜透镜,相对于试料,设置于所述荷电粒子线的入射侧的相反侧,将所述荷电粒子线聚焦于试料;绝缘板,配置于所述物镜透镜上;及导电性试料台,配置于所述绝缘板上;其中,所述物镜透镜及所述导电性试料台为绝缘。
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