[发明专利]利用波长可调激光器的光线路测试仪有效
| 申请号： | 201580070856.9 | 申请日： | 2015-12-22 |
| 公开（公告）号： | CN107110737B | 公开（公告）日： | 2020-02-18 |
| 发明（设计）人： | 罗基云 | 申请（专利权）人： | 株式会社秀利得 |
| 主分类号： | G01M11/00 | 分类号： | G01M11/00;G01M11/02;H04B10/071 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 吕琳;宋东颖 |
| 地址： | 韩国京畿*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 根据本发明的光线路测试仪，作为至少用于检测光线路的截断位置光线路测试仪，其特征在于包括：包括：第一波长可调激光器源(TOS1)，其产生多个波长交替性地按周期出现的第一光信号，其中将一个波长反复出现的周期称为“波长反复周期”；第二波长可调激光器源(TOS2)，其产生与第一光信号相同、且具有能够被调节的延迟时间的第二光信号；以及干涉仪(IFM)，其使射出至光线路的第一光信号中返回的反射光信号与上述第二光信号产生干涉，从而输出干涉信号。 | ||
| 搜索关键词： | 利用 波长 可调 激光器 线路 测试仪 | ||
【主权项】：
一种光线路测试仪，其至少用于检测光线路的截断位置，其特征在于，包括：第一波长可调激光器源，其产生多个波长交替性地按周期出现的第一光信号，其中将一个波长反复出现的周期称为波长反复周期；第二波长可调激光器源，其产生与第一光信号相同、且具有能够被调节的延迟时间的第二光信号；以及干涉仪，其使射出至光线路的第一光信号中返回的反射光信号与所述第二光信号产生干涉，并输出干涉信号，其中，在改变所述延迟时间的同时，检测干涉信号的输出。
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