[发明专利]用于基于阈值电压降档量的存储器单元的刷新编程的方法和设备有效

专利信息
申请号: 201580070728.4 申请日: 2015-11-18
公开(公告)号: CN107112048B 公开(公告)日: 2021-02-02
发明(设计)人: L.庞;董颖达;陈健 申请(专利权)人: 桑迪士克科技有限责任公司
主分类号: G11C11/56 分类号: G11C11/56;G11C16/34
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 万里晴
地址: 美国得*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 提供了用于周期性地监测并调整电荷捕获存储器器件中的存储器单元的阈值电压电平的技术。当满足准则时,诸如基于通过特定的时间段,读取存储器单元以根据阈值电压(Vth)的降档量将它们分类成不同的子集。每个数据状态可以使用两个或多个子集。子集还可以包括使用误差校正码(ECC)解码来校正的单元。存储器单元的子集被刷新编程而不被擦除,其中与Vth降档成比例地提供Vth升档。刷新编程可以对每个子集使用固定的或自适应数量的编程脉冲。某些单元将不具有可检测的Vth降档或可以忽略的少量的Vth降档。这些单元不需要被刷新编程。
搜索关键词: 用于 基于 阈值 电压 降档量 存储器 单元 刷新 编程 方法 设备
【主权项】:
一种用于操作存储器器件的方法,包含∶进行涉及存储器单元(900‑915)组(950)的完整编程操作,所述完整编程操作使用一个目标数据状态(A、B、C)的初始验证电压(VvA、VvB、VvC)对存储器单元编程;在完成所述完整编程操作之后,作出是否满足用于检查所述存储器单元组的数据保留的准则的确定;响应于满足所述准则的确定,对所述一个目标数据状态的存储器单元进行感测操作,以在所述存储器单元组中识别存储器单元的多个子集,所述存储器单元的多个子集包括存储器单元的第一(Asubl、Bsubl、Csubl)、第二(Asub2、Bsub2、Csub2)和第三(Bsub3、Csub3)子集,存储器单元的所述第一子集处于包含所述初始验证电压(VvC)的第一阈值电压范围(Vth>VrCl;VrB1<Vth<VrB/C;VrA1<Vth<VrA/B)中,存储器单元的所述第二子集处于低于所述第一阈值电压范围的第二阈值电压范围(VrC2<Vth<VrCl;VrB2<Vth<VrB1;VrE/A<Vth<VrA1)中,并且存储器单元的所述第三子集处于低于所述第二阈值电压范围的第三阈值电压范围(VrB/C<Vth<VrC2;VrA/B<Vth<VrB2;Vth<VrE/A)中;以及对存储器单元的所述第二子集进行刷新编程,并对存储器单元的所述第三子集进行刷新编程,而不对存储器单元的所述第一子集进行刷新编程,其中,由对存储器单元的所述第三子集的刷新编程引起的存储器单元的所述第三子集的阈值电压升档(VvC3‑VrB/C;VvB3‑VrA/B)大于由对存储器单元的所述第二子集的刷新编程引起的存储器单元的所述第二子集的阈值电压升档(VvC2‑VrC2;VvB2‑VrB2)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于桑迪士克科技有限责任公司,未经桑迪士克科技有限责任公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201580070728.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top