[发明专利]使用基于点积的固定功能逻辑的光线-盒相交测试有效
| 申请号： | 201580054934.6 | 申请日： | 2015-10-05 |
| 公开（公告）号： | CN107111890B | 公开（公告）日： | 2018-10-30 |
| 发明（设计）人： | 尤拉伊·奥伯特;维尼特·戈尔 | 申请（专利权）人： | 高通股份有限公司 |
| 主分类号： | G06T15/00 | 分类号： | G06T15/00;G06T15/06 |
| 代理公司： | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人： | 杨林勋 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 美国;US |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种用于光线追踪的方法和设备可包含使用GPU的纹理管线硬件来执行针对第一光线和第一形状的光线相交测试。使用所述纹理管线硬件来执行光线相交测试可包含通过所述纹理管线硬件计算多个点积，以及基于所述多个点积确定所述第一光线是否与所述第一形状相交。 | ||
| 搜索关键词： | 使用 基于 固定 功能 逻辑 光线 相交 测试 | ||
【主权项】：
1.一种图形处理中的光线追踪的方法，所述方法包括：接收界定第一形状和第一光线的信息；使用图形处理单元的纹理管线硬件来执行针对所述第一光线和所述第一形状的光线相交测试，其中所述纹理管线硬件与着色器处理器分离，其中所述纹理管线硬件包含经配置以计算点积的固定功能硬件单元，且其中执行所述光线相交测试包含：基于界定所述第一形状和所述第一光线的信息通过所述纹理管线硬件计算所述第一形状和所述第一光线的多个点积；基于所述多个点积通过所述纹理管线硬件计算所述第一光线和所述第一形状之间的多个距离；以及基于所计算的多个距离来确定所述第一光线是否与所述第一形状相交；以及通过所述纹理管线硬件基于所述确定输出所述第一光线是否与所述第一形状相交的指示。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于高通股份有限公司，未经高通股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201580054934.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：用于去除晶圆表面凸起的装置
- 下一篇：带有图形界面的电脑（私有云记忆库管理）
