[发明专利]集成的薄膜电阻器和MIM电容器有效
申请号: | 201580022877.3 | 申请日: | 2015-05-05 |
公开(公告)号: | CN106463507B | 公开(公告)日: | 2019-09-24 |
发明(设计)人: | C·迪内克尔 | 申请(专利权)人: | 德克萨斯仪器股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/102 | 分类号: | H01L27/102 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人: | 徐东升;赵蓉民 |
地址: | 美国德*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 在所描述的示例中,一种电子器件包括具有后端电容器(122)和后端薄膜电阻器(126)的半导体结构(102)。该半导体结构(102)包括第一介电层(106)、电容器(122)的底板(134)以及薄膜电阻器主体(132)。底板(134)和电阻器主体(132)是同一薄膜层(108)的横向间隔开的部分。底板(134)还包括覆盖在薄膜层(108)上的导电层(110)。第二介电层(124)被设置在电容器(122)的底板(134)的导电层(110)上。电容器(122)的顶板(120)被设置在第二介电层(124)上。 | ||
搜索关键词: | 集成 薄膜 电阻器 mim 电容器 | ||
【主权项】:
1.一种包含半导体结构的电子器件,所述半导体结构具有:第一介电层;电阻器的电阻器主体,所述电阻器主体包括在所述第一介电层上的薄膜层的第一部分;电容器的底板,所述底板包括所述薄膜层的第二部分和覆盖所述薄膜层的所述第二部分的导电层;第二介电层,其设置在所述电容器的所述底板上;所述电容器的顶板,其设置在所述底板上方的所述第二介电层上;硬掩模层,其在所述薄膜层的所述第一部分和所述顶板上;第三介电层,其被设置在所述电容器的所述顶板上方和所述电阻器主体上方;以及被设置在所述第三介电层上的所述半导体结构的第二金属化层级。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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