[发明专利]光学测定装置以及光学测定方法有效

专利信息
申请号: 201580002344.9 申请日: 2015-04-24
公开(公告)号: CN106304845B 公开(公告)日: 2019-09-03
发明(设计)人: 水口勉 申请(专利权)人: 大塚电子株式会社
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人: 刘新宇
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 光学测定装置的控制部在旋转体的旋转速度被控制为规定值的状态下,将由光源产生的固定强度的光照射到照射区域,并且基于通过由第二检测部接收所照射出的该光的反射光或透射光而输出的强度随时间的变化来获取第一定时信息,其中,该照射区域是样本随着旋转体的旋转而经过的区域。控制部在旋转体的旋转速度被控制为规定值的状态下,将使光源按照第一定时信息周期性地产生的脉冲状的光照射到照射区域,并且基于通过使第一检测部的测定按照第一定时信息周期性地有效化而输出的结果来获取第二定时信息。
搜索关键词: 光学 测定 装置 以及 方法
【主权项】:
1.一种光学测定装置,对配置于旋转体的一个或多个样本的光学特性进行测定,该光学测定装置具备:光源;第一检测部,其输出所接收到的光的特性值;第二检测部,其具有比所述第一检测部的响应速度高的响应速度,输出所接收到的光的强度;以及控制部,其中,所述控制部在所述旋转体的旋转速度被控制为规定值的状态下,将由所述光源产生的固定强度的光照射到照射区域,并且基于通过由所述第二检测部接收所照射出的该光的反射光或透射光而输出的强度随时间的变化来获取第一定时信息,其中,所述照射区域是所述样本随着所述旋转体的旋转而经过的区域,所述第一定时信息是用于定义与各样本的位置对应地使所述第一检测部的测定有效化的期间的信息,所述控制部在所述旋转体的旋转速度被控制为所述规定值的状态下,将使所述光源按照所述第一定时信息周期性地产生的脉冲状的光照射到所述照射区域,并且基于通过使所述第一检测部的测定按照所述第一定时信息周期性地有效化而输出的结果来获取第二定时信息,其中,所述第二定时信息是用于定义从所述光源产生脉冲状的光的期间的信息,所述控制部在所述旋转体的旋转速度被控制为所述规定值的状态下,使所述第一检测部的测定按照所述第一定时信息周期性地有效化,并且使所述光源按照所述第二定时信息周期性地产生脉冲状的光,由此针对各个样本获取从所述第一检测部输出的特性值。
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