[发明专利]旋光度以及折射率的测定装置

摘要

提供一种在同一测定条件下能够同时测定与测定对象物的旋光度和折射率对应的信息，测定操作简便且容易构成为小型设备的旋光度以及折射率的测定装置。具备：试样室(1)，其收纳测定对象物；旋光度测定部(2)，其测定收纳在试样室(1)内的测定对象物的旋光度；以及折射率测定部(3)，其测定与收纳在试样室(1)内的测定对象物的折射率对应的信息。旋光度测定部(2)具有：偏光调制部(11)，其使分析对象光(9)进行偏光调制后向试样室(1)入射；强度检测部(12)，其检测经过了试样室(1)的分析对象光(5)的光强度；以及旋光度运算部(13)，折射率测定部(3)具有：位置检测部(26)，其检测向构成试样室(1)的底部的棱镜(8)入射的分析对象光(24)的位置信息；以及折射率(浓度)运算部(13)。

主权项

1.一种旋光度以及折射率的测定装置，其特征在于，该测定装置具备：试样室，其收纳测定对象物；旋光度测定部，其具有第一光学系统和旋光度运算部，该第一光学系统具有：第一光源，其产生第一分析对象光；偏光调制部，其由液晶元件构成，使该第一分析对象光进行偏光调制后从所述试样室的一侧的外部向所述试样室入射；光强度检测部，其检测透射收纳在所述试样室内的所述测定对象物并向所述试样室的另一侧的外部出射的所述第一分析对象光的光强度，其中，所述旋光度运算部根据由该光强度检测部检测出的与所述测定对象物的旋光度对应的光强度信息来计算所述第一分析对象光的偏光特性要素，并计算所述测定对象物的旋光度；以及折射率测定部，其具有第二光学系统和折射率运算部，该第二光学系统具有不同于所述第一光源的第二光源，其产生第二分析对象光；棱镜，其被设置成所述第二分析对象光入射到该棱镜的一个面并从另一个面出射；位置检测部，其检测从所述棱镜出射的所述第二分析对象光的位置信息，其中，所述折射率运算部根据由该位置检测部检测出的与所述测定对象物的折射率对应的位置信息来计算折射率,将所述第一分析对象光设为平行光束，并且将所述第二分析对象光设为扩散光，所述棱镜的所述一个面构成收纳所述测定对象物的所述试样室的空间的壁部或底部的一部分，并且，所述第二分析对象光在该棱镜的所述一个面上进行内面反射后，从所述另一个面出射，所述棱镜构成所述试样室的底部的一部分，试样室仅具有底部和侧部，使得能够直接注入测定对象物。