[发明专利]旋光度以及折射率的测定装置

说明书

提供一种在同一测定条件下能够同时测定与测定对象物的旋光度和折射率对应的信息，测定操作简便且容易构成为小型设备的旋光度以及折射率的测定装置。具备：试样室(1)，其收纳测定对象物；旋光度测定部(2)，其测定收纳在试样室(1)内的测定对象物的旋光度；以及折射率测定部(3)，其测定与收纳在试样室(1)内的测定对象物的折射率对应的信息。旋光度测定部(2)具有：偏光调制部(11)，其使分析对象光(9)进行偏光调制后向试样室(1)入射；强度检测部(12)，其检测经过了试样室(1)的分析对象光(5)的光强度；以及旋光度运算部(13)，折射率测定部(3)具有：位置检测部(26)，其检测向构成试样室(1)的底部的棱镜(8)入射的分析对象光(24)的位置信息；以及折射率(浓度)运算部(13)。

技术领域

本发明涉及一种能够在同一条件下测定液体或固体的旋光度和折射率的旋光度以及折射率的测定装置。

背景技术

以往，已知对测定对象物的折射率进行测定，并将测定出的折射率换算成浓度((白利糖度：Brix)值)的方法。另一方面，在专利文献1、专利文献2以及非专利文献1中记载了通过使偏光元件旋转等来对测定对象物的旋光度进行测定的方法。

并且，例如为了计算表示全可溶性固形物所包含的蔗糖量的比率的纯糖率，需要根据折射率求出的白利糖度值、由旋光计求出的旋转度这2个参数。

即，需要根据旋光度和白利糖度值这2个值求出第3参数。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开2005-292028号公报

专利文献2：日本特开2009-085853号公报

非专利文献

非专利文献1：若山俊隆，津嶋秀樹，中島吉則，大谷幸利，梅田倫弘：“液晶旋光計”，応用物理学会講演予稿集，1137(2005).

发明内容

发明要解决的课题

但是，分别通过专用的测定机来测定测定对象物的折射率和旋光度。因此，为了根据这2个值求出第3参数，必须将通过一个测定机得到的测定值输入到另一个测定机中等来进行计算，是繁杂的。

此外，无法在将测定对象物设定成同一测定条件的情况下同时测定各个值。

并且，测定旋光度的以往的旋光计使用电动机等驱动机构而构成，因此是大型设备，很难构成为小型且能够轻便地进行测定的设备。

因此，本发明是鉴于上述实际情况而提出的，其目的是提供一种在同一测定条件下能够同时测定测定对象物的旋光度和折射率，测定操作简便且容易构成为小型设备的旋光度以及折射率的测定装置。

用于解决课题的手段

为了解决上述课题并达成上述目的，本发明的旋光度以及折射率的测定装置具有以下的结构。

〔结构1〕