[实用新型]中子准直器中子性能测试装置有效
| 申请号： | 201520997171.6 | 申请日： | 2015-12-04 |
| 公开（公告）号： | CN205210314U | 公开（公告）日： | 2016-05-04 |
| 发明（设计）人： | 陈东风;刘蕴韬;李玉庆;吴立齐;孙凯;王洪立;韩松柏;高建波;贺林峰;李天富;韩文泽;肖红文;王雨 | 申请（专利权）人： | 中国原子能科学研究院 |
| 主分类号： | G01T3/00 | 分类号： | G01T3/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 102413 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型涉及一种仪器性能测试装置。为解决现有中子准直器的中子性能测试方式精度低、经济性差、测试操作不便等问题，本实用新型提供了一种中子准直器中子性能测试装置。该装置包括二维可调狭缝、测试台、中子探测系统、控制系统和数据采集系统；所述测试台包括底座以及两组中子准直器位置调节装置；所述中子准直器位置调节装置包括旋转台、高度调节装置、横向滑轨、纵向滑轨和中子准直器固定座，所述旋转台、横向滑轨和纵向滑轨均由伺服电机控制。本实用新型的测试装置能够精确、快速的测量中子准直器的中子发散角和中子透射率，具有较好的经济性，测试操作较为方便，测试前的准备和安装工作得以明显简化，同时还具有极好的可移动性。 | ||
| 搜索关键词： | 中子 准直器 性能 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种中子准直器中子性能测试装置，其特征在于：该装置包括二维可调狭缝、测试台、中子探测系统、控制系统和数据采集系统；所述测试台包括底座以及两组中子准直器位置调节装置，所述两组中子准直器位置调节装置结构相同；所述中子准直器位置调节装置包括旋转台、高度调节装置、横向滑轨、纵向滑轨和中子准直器固定座，所述高度调节装置固定于所述旋转台上，所述高度调节装置上固定有横向滑轨，所述横向滑轨上设有能够沿横向滑轨滑动的纵向滑轨，所述纵向滑轨上设有中子准直器固定座，所述旋转台、横向滑轨和纵向滑轨均由伺服电机控制。
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