[实用新型]中子准直器中子性能测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种仪器性能测试装置，具体涉及一种中子准直器中子性能测试装置。

背景技术

中子散射谱仪是利用反应堆、散裂源等产生的大量不同能量的中子作为中子源，从中选出一定能量的中子入射到被研究的样品上，通过探测出射中子能量、动量等参数，以实现对样品的应力、织构、微观结构、磁相关性能等方面的研究的仪器。由于反应堆或散裂源产生的中子向4π方向散射，导致从孔道引出的中子束流发散角很大，而动量变化的测量需要入射中子有确定的方向，因而中子散射谱仪一般需要使用中子准直器，以限定入射中子的方向，从而达到提高其分辨率，提升信噪比的目的。

近年来，我国的中子散射研究技术仍处于不断发展过程中，有关设备的技术水平不断提升，因此对中子准直器的性能也提出了更高要求。为确保中子准直器在使用过程中能够充分发挥其性能且具有高可靠性，中子准直器正式安装使用前必须进行中子性能测试。中子准直器的中子性能主要包括两个方面，即中子发散角和中子透射率，因此中子性能测试的主要工作就是对这两个参数进行测量。

目前，中子准直器的中子性能测试都是在特定的中子散射谱仪上进行的，但由于中子散射谱仪资源的宝贵，因此上述测试方式会导致资源的浪费，并带来以下问题：1.测试前的准备工作非常繁琐，2.测试过程复杂，3.测试精度低，4.测试时间长。由此可见，现有中子准直器的中子性能测试方式精度低、经济性差、测试操作十分不便。

实用新型内容

为解决现有中子准直器的中子性能测试方式精度低、经济性差、测试操作不便等问题，本实用新型提供了一种中子准直器中子性能测试装置。

该装置包括二维可调狭缝、测试台、中子探测系统、控制系统和数据采集系统；所述测试台包括底座以及两组中子准直器位置调节装置，所述两组中子准直器位置调节装置结构相同；所述中子准直器位置调节装置包括旋转台、高度调节装置、横向滑轨、纵向滑轨和中子准直器固定座，所述高度调节装置固定于所述旋转台上，所述高度调节装置上固定有横向滑轨，所述横向滑轨上设有能够沿横向滑轨滑动的纵向滑轨，所述纵向滑轨上设有中子准直器固定座，所述旋转台、横向滑轨和纵向滑轨均由伺服电机控制。

所述中子探测系统可以采用H3单管探测器、二维位置灵敏探测器或中子照相机。

所述中子准直器中子性能测试装置还可以包括中子屏蔽室。

本实用新型的中子准直器中子性能测试装置采用了两个中子准直器位置调节装置，二者均可实现中子准直器的旋转、升降以及水平方向的横移和纵移，便于中子准直器的安装和对准。

实际应用中，本实用新型的中子准直器中子性能测试装置可以以传统的反应堆或散裂中子源作为测试中子源；也可以利用其它中子散射谱仪工作时多余不用的透射中子束作为测试中子源，极大的降低中子束流成本；还可以在所述中子屏蔽室中设置小型的弱中子源作为测试中子源，提高应用灵活性。

本实用新型的中子准直器中子性能测试装置是一种专用测量装置，能够精确、快速的测量中子准直器的中子发散角和中子透射率，由于脱离了对中子散射谱仪的依赖，因此具有较好的经济性，测试操作较为方便，测试前的准备和安装工作得以明显简化，同时还具有极好的可移动性。

附图说明

图1本实用新型的中子准直器中子性能测试装置俯视图。

图2本实用新型的中子准直器中子性能测试装置测试台示意图。

图3本实用新型的中子准直器中子性能测试装置测试台俯视图。

图4本实用新型的中子准直器中子性能测试装置测试台侧视图。

附图标记：1.二维可调狭缝，2.测试台，3.中子探测系统，4.控制系统，5.数据采集系统，6.底座，7.中子准直器位置调节装置，8.旋转台，9.高度调节装置，10.横向滑轨，11.纵向滑轨，12.中子准直器固定座，13.旋转台伺服电机，14.横向滑轨伺服电机，15.纵向滑轨伺服电机，16.中子屏蔽室。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型的实施方式做进一步的说明。

实施例1

采用本实用新型的中子准直器中子性能测试装置对某一批次(共9个)金属中子准直器的中子发散角和中子透射率进行测试，其主要步骤如下：

(一)将中子准直器中子性能测试装置置于某工作中的中子散射谱仪附近，并以其多余不用的透射中子束作为测试中子源；

(二)根据待测试金属中子准直器的尺寸对二维可调狭缝的限束尺寸进行调节；