[实用新型]用于像素阵列的片上测试的电路和系统有效
| 申请号： | 201520765285.8 | 申请日： | 2015-09-29 |
| 公开（公告）号： | CN205160709U | 公开（公告）日： | 2016-04-13 |
| 发明（设计）人： | 费日春;S·米尔;J·莫罗 | 申请（专利权）人： | 意法半导体（格勒诺布尔2）公司 |
| 主分类号： | H04N17/00 | 分类号： | H04N17/00 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人： | 王茂华 |
| 地址： | 法国格*** | 国省代码： | 法国;FR |
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| 摘要： | 为了检测图像传感器的像素阵列中的非灾难性故障，提供了用于像素阵列的片上测试的电路和方法。电路包括：控制电路，被配置为向图像传感器的像素阵列的控制接线施加信号跃迁；以及故障检测电路，耦合到控制接线，并且被配置为：确定控制接线上的信号跃迁的至少一部分的持续时间；并且基于检测到的持续时间来检测控制接线中的电故障。本公开还提供了系统。即使当图像传感器的控制接线中的电故障不立即导致接线的灾难性故障时，本文描述的实施例也可以检测到这种故障。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 像素 阵列 测试 电路 系统 | ||
【主权项】：
一种电路，其特征在于，包括：控制电路，被配置为将信号跃迁施加到图像传感器的像素阵列的控制接线；以及故障检测电路，耦合到所述控制接线，并且被配置为确定所述控制接线上的所述信号跃迁的至少一部分的持续时间；并且基于检测到的所述持续时间，检测所述控制接线中的电故障。
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