[实用新型]用于像素阵列的片上测试的电路和系统有效
| 申请号: | 201520765285.8 | 申请日: | 2015-09-29 |
| 公开(公告)号: | CN205160709U | 公开(公告)日: | 2016-04-13 |
| 发明(设计)人: | 费日春;S·米尔;J·莫罗 | 申请(专利权)人: | 意法半导体(格勒诺布尔2)公司 |
| 主分类号: | H04N17/00 | 分类号: | H04N17/00 |
| 代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 王茂华 |
| 地址: | 法国格*** | 国省代码: | 法国;FR |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 用于 像素 阵列 测试 电路 系统 | ||
1.一种电路,其特征在于,包括:
控制电路,被配置为将信号跃迁施加到图像传感器的像素阵列的控制接线;以及
故障检测电路,耦合到所述控制接线,并且被配置为
确定所述控制接线上的所述信号跃迁的至少一部分的持续时间;并且
基于检测到的所述持续时间,检测所述控制接线中的电故障。
2.根据权利要求1所述的电路,其特征在于,其中所述故障检测电路包括:
第一电路,适于当所述控制接线上的所述电压信号达到第一阈值时确立第一信号;以 及
第二电路,适于当所述控制接线上的所述电压信号达到第二阈值时确立第二信号;
所述故障检测电路被配置为基于所述第一信号和所述第二信号进行所述故障检测。
3.根据权利要求2所述的电路,其特征在于,其中所述第一电路包括低阈值反相器。
4.根据权利要求2所述的电路,其特征在于,其中所述第二电路包括半施密特触发器。
5.根据权利要求2所述的电路,其特征在于,其中:
所述第一电路包括第一晶体管,所述第一晶体管的控制节点耦合到所述控制接线;并 且
所述第二电路包括第二晶体管和第三晶体管,所述第二晶体管和所述第三晶体管中的 每个晶体管的控制节点耦合到所述控制接线。
6.根据权利要求5所述的电路,其特征在于,其中所述第一晶体管具有比所述第二晶体 管和所述第三晶体管中的每个晶体管的宽度/长度比大的宽度/长度比。
7.根据权利要求5所述的电路,其特征在于,其中所述第二电路进一步包括:
第四晶体管,与所述第二晶体管和所述第三晶体管串联耦合;以及
第五晶体管,通过其主导电节点耦合在电源电压节点和中间节点之间,所述中间节点 在所述第二晶体管和所述第三晶体管之间,所述第五晶体管的控制节点耦合到在所述第二 晶体管和所述第四晶体管之间的中间节点。
8.根据权利要求7所述的电路,其特征在于,其中所述第四晶体管的控制节点耦合到重 置信号,并且其中所述第一电路包括第六晶体管,所述第六晶体管耦合到所述第一晶体管 的所述主导电节点之一,并且所述第六晶体管的控制节点耦合到所述重置信号。
9.根据权利要求1所述的电路,其特征在于,其中所述参考持续时间由接收所述第二信 号的缓冲器生成。
10.一种系统,其特征在于,包括:
多个测试电路,每个测试电路耦合到多个控制接线中的一个对应控制接线,其中每个 测试电路包括:
控制电路,被配置为将信号跃迁施加到图像传感器的像素阵列的控制接线;以及
故障检测电路,耦合到所述控制接线,并且被配置为:
确定所述控制接线上的所述信号跃迁的至少一部分的持续时间;并且
基于检测到的所述持续时间,检测所述控制接线中的电故障;以及
多个同步设备,被配置为将检测到的所述持续时间与参考持续时间进行比较,其中所 述同步设备被配置为菊花链式的,以输出针对所述多个控制接线中的每个控制接线的所述 比较的结果。
11.根据权利要求10所述的系统,其特征在于,其中每个故障检测电路包括:
第一电路,适于当所述控制接线上的所述电压信号达到第一阈值时确立第一信号;以 及
第二电路,适于当所述控制接线上的所述电压信号达到第二阈值时确立第二信号;
所述故障检测电路被配置为基于所述第一信号和所述第二信号进行所述故障检测。
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