[实用新型]用于硅片品质分选设备的上料装置有效

专利信息
申请号: 201520670078.4 申请日: 2015-08-31
公开(公告)号: CN205011021U 公开(公告)日: 2016-02-03
发明(设计)人: 尹昊;陈勇平;郭立 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第四十八研究所
主分类号: B65G47/91 分类号: B65G47/91
代理公司: 湖南兆弘专利事务所 43008 代理人: 周长清
地址: 410111 湖南*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 实用新型公开了一种用于硅片品质分选设备的上料装置,包括平移组件、一个以上的上料槽以及传送组件,所述上料槽内放置有叠好的硅片,所述平移组件上设置有一个以上的真空吸盘,所述平移组件带着真空吸盘运动至上料槽以吸附上料槽内的硅片,然后带着所述真空吸盘运动至传送组件的上方放下硅片,由所述传送组件进行硅片的传送。本实用新型具有结构简单、生产效率高、可靠性好等优点。
搜索关键词: 用于 硅片 品质 分选 设备 装置
【主权项】:
一种用于硅片品质分选设备的上料装置,其特征在于,包括平移组件、一个以上的上料槽(2)以及传送组件,所述上料槽(2)内放置有叠好的硅片(5),所述平移组件上设置有一个以上的真空吸盘(7),所述平移组件带着真空吸盘(7)运动至上料槽(2)以吸附上料槽(2)内的硅片(5),然后带着所述真空吸盘(7)运动至传送组件的上方放下硅片(5),由所述传送组件进行硅片(5)的传送。
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