[实用新型]一种一体化X荧光分析仪有效

专利信息
申请号: 201520561082.7 申请日: 2015-07-29
公开(公告)号: CN205091279U 公开(公告)日: 2016-03-16
发明(设计)人: 乔文韬;周偃;郭晓明 申请(专利权)人: 上海精谱科技有限公司
主分类号: G01N23/223 分类号: G01N23/223
代理公司: 上海天翔知识产权代理有限公司 31224 代理人: 吕伴
地址: 201806 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 实用新型公开了一种一体化X荧光分析仪,包括激发光源装置、信号探测装置、信号处理装置、滤光片准直器控制系统、样品自旋测试平台、嵌入式计算机、摄像头和数码控制转换器、真空系统和真空室;所述激发光源装置通过数码控制转换器与所述嵌入式计算机连接,所述信号探测装置中设置有与所述信号处理装置连接的SUPER-SDD电制冷探测器,所述信号处理装置与所述嵌入式计算机连接,所述滤光片准直器控制系统连接一电机驱动装置,所述摄像头设置在样品自旋测试平台的底部,所述样品自旋测试平台设有在真空室内。本实用新型设计合理、结构简单、安装操作方便、抗干扰能力强、测试平台能够旋转,有效避免对不均匀的样品及表面有条痕的样品测量不准确的情况,通用性强。
搜索关键词: 一种 一体化 荧光 分析
【主权项】:
一种一体化X荧光分析仪,其特征在于,包括激发光源装置、信号探测装置、信号处理装置、滤光片准直器控制系统、样品自旋测试平台、嵌入式计算机、摄像头和数码控制转换器、真空系统和真空室;所述激发光源装置通过数码控制转换器与所述嵌入式计算机连接,所述激发光源装置中设置有X射线发生器和高压发生器,所述信号探测装置中设置有与所述信号处理装置连接的SUPER‑SDD电制冷探测器,所述信号处理装置与所述嵌入式计算机连接,所述SUPER‑SDD电制冷探测器位于所述X射线发生器激发射线的最佳反射角的位置上,所述滤光片准直器控制系统设置在所述X射线发生器前,所述滤光片准直器控制系统包括多个可选滤光片和准直器,所述滤光片准直器控制系统连接一电机驱动装置,所述摄像头设置在样品自旋测试平台的底部,所述样品自旋测试平台设有在真空室内。
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