[实用新型]一种一体化X荧光分析仪有效

专利信息
申请号: 201520561082.7 申请日: 2015-07-29
公开(公告)号: CN205091279U 公开(公告)日: 2016-03-16
发明(设计)人: 乔文韬;周偃;郭晓明 申请(专利权)人: 上海精谱科技有限公司
主分类号: G01N23/223 分类号: G01N23/223
代理公司: 上海天翔知识产权代理有限公司 31224 代理人: 吕伴
地址: 201806 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 一体化 荧光 分析
【权利要求书】:

1.一种一体化X荧光分析仪,其特征在于,包括激发光源装置、信号探测装置、信号处理装置、滤光片准直器控制系统、样品自旋测试平台、嵌入式计算机、摄像头和数码控制转换器、真空系统和真空室;

所述激发光源装置通过数码控制转换器与所述嵌入式计算机连接,所述激发光源装置中设置有X射线发生器和高压发生器,所述信号探测装置中设置有与所述信号处理装置连接的SUPER-SDD电制冷探测器,所述信号处理装置与所述嵌入式计算机连接,所述SUPER-SDD电制冷探测器位于所述X射线发生器激发射线的最佳反射角的位置上,所述滤光片准直器控制系统设置在所述X射线发生器前,所述滤光片准直器控制系统包括多个可选滤光片和准直器,所述滤光片准直器控制系统连接一电机驱动装置,所述摄像头设置在样品自旋测试平台的底部,所述样品自旋测试平台设有在真空室内。

2.如权利要求1所述的一种一体化X荧光分析仪,其特征在于:所述样品自旋测试平台包括样品自旋托架、自旋轴承、自旋大齿轮、自旋小齿轮、自旋电机和样品盒,所述自旋电机设置在所述样品自旋托架下端,所述自旋电机的输出轴与所述自旋小齿轮相连接,所述自旋小齿轮与所述自旋大齿轮相啮合,所述自旋大齿轮设置在所述自旋轴承上,所述自旋轴承设置在所述样品自旋托架上,所述样品自旋托架设置在所述真空室内,所述样品盒设置在自旋大齿轮上,所述样品盒内部设有样品座以及弹簧压片。

3.如权利要求1所述的一种一体化X荧光分析仪,其特征在于:所述真空系统包括电磁阀、真空泵、管道、数码真空检测器以及控制系统,所述管道与所述真空室相连通,所述真空泵通过管道将所述真空室内的空气抽出,所述电磁阀设置在真空泵与真空室之间的管道上,所述数码真空检测器设置在所述真空室内。

4.如权利要求1所述的一种一体化X荧光分析仪,其特征在于:所述信号处理装置包括放大器、数模转换器和单片机,所述放大器与数模转换器相连接,所述数模转换器与所述单片机相连接。

5.如权利要求4所述的一种一体化X荧光分析仪,其特征在于:所述嵌入式计算机设有USB接口、RS232串口和以太网通信接口,所述单片机通过USB接口把获取的多道数据传输给嵌入式计算机。

6.如权利要求1所述的一种一体化X荧光分析仪,其特征在于:在所述信号探测装置内部还设有探测器电源,所述SUPER-SDD电制冷探测器通过探测器电源供电。

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