[实用新型]镀膜后硅片缺陷检测分选设备有效
| 申请号： | 201520427485.2 | 申请日： | 2015-06-19 |
| 公开（公告）号： | CN204866575U | 公开（公告）日： | 2015-12-16 |
| 发明（设计）人： | 孙智权;童钢;赵不贿;张千;周奇 | 申请（专利权）人： | 镇江苏仪德科技有限公司 |
| 主分类号： | B07C5/34 | 分类号： | B07C5/34;B07C5/36;B07C5/38 |
| 代理公司： | 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 | 代理人： | 张华蒙 |
| 地址： | 212013 江苏省*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型公开了镀膜后硅片缺陷检测分选设备，属于太阳能电池片生产领域，包括传送带，传送带依次贯穿设置在下料机械装置和暗箱的下方，再经第一单轴机械臂和第二单轴机械臂的下方穿过直至与合格硅片传送装置相连接，传送带设置在金属横梁上；暗箱通过支架设置在机柜上，在暗箱内的顶部设有配合使用的工业相机和镜头，在镜头的下方设有圆顶光源，在暗箱正下方放置传送带的金属横梁上镶嵌设置白色背景板，在白色背景板上设有光电传感器。本实用新型的镀膜后硅片缺陷检测分选设备，可以对镀膜后硅片进行实时、在线、稳定、高效、快速的缺陷检测和分选，且生产线无需停顿，对硅片非接触式，实现了对均匀红片的回收利用，具备很好的实用性。 | ||
| 搜索关键词： | 镀膜 硅片 缺陷 检测 分选 设备 | ||
【主权项】：
镀膜后硅片缺陷检测分选设备，其特征在于：包括传送带(15)，该传送带(15)依次贯穿设置在下料机械装置(1)和暗箱(3)的下方，再经第一单轴机械臂(6)和第二单轴机械臂(7)的下方穿过直至与合格硅片传送装置(8)相连接，所述的传送带(15)设置在金属横梁上，金属横梁固定在机柜(10)上；在所述的下料机械装置(1)内设有用于放置镀膜后硅片(14)的花篮(2)；所述的暗箱(3)通过支架设置在机柜(10)上，在所述的暗箱(3)内的顶部设有配合使用的工业相机(11)和镜头(12)，在镜头(12)的下方设有圆顶光源(13)，在所述的暗箱(3)正下方放置传送带(15)的金属横梁上镶嵌设置白色背景板(4)，在白色背景板(4)上设有光电传感器(16)；其中，在所述的机柜(10)的顶部设有配合暗箱(3)和机柜(10)使用的工控机(5)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于镇江苏仪德科技有限公司，未经镇江苏仪德科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201520427485.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
