[实用新型]建筑物位移测量系统有效

专利信息
申请号: 201520408650.X 申请日: 2015-06-12
公开(公告)号: CN204718553U 公开(公告)日: 2015-10-21
发明(设计)人: 石晶欣;李飞;刘辉 申请(专利权)人: 北京光电技术研究所
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 娄冬梅;黄健
地址: 100010 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型提供一种建筑物位移测量系统,包括:用于获取建筑物图像的摄像头、用于测量摄像头成像面与建筑物之间距离的测距仪、用于调节并获取所述摄像头的俯仰角度和水平角度的云台、以及位移计算装置;其中,所述测距仪和摄像头设置在所述云台上;所述位移计算装置分别与所述测距仪、摄像头和云台通信连接,根据所述建筑物图像、摄像头成像面与建筑物之间距离、俯仰角度和水平角度计算建筑物的位移量。本实用新型提供的建筑物位移测量系统能够提高测量效率,并实现长期测量和实时性测量。
搜索关键词: 建筑物 位移 测量 系统
【主权项】:
一种建筑物位移测量系统,其特征在于,包括:用于获取建筑物图像的摄像头、用于测量摄像头成像面与建筑物之间距离的测距仪、用于调节并获取所述摄像头的俯仰角度和水平角度的云台、以及位移计算装置;其中,所述测距仪和摄像头设置在所述云台上;所述位移计算装置分别与所述测距仪、摄像头和云台通信连接,根据所述建筑物图像、摄像头成像面与建筑物之间距离、俯仰角度和水平角度计算建筑物的位移量。
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