[实用新型]一种SOC芯片测量设备有效
申请号: | 201520371282.6 | 申请日: | 2015-06-02 |
公开(公告)号: | CN204731379U | 公开(公告)日: | 2015-10-28 |
发明(设计)人: | 卢旭坤 | 申请(专利权)人: | 广东利扬芯片测试股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 东莞市华南专利商标事务所有限公司 44215 | 代理人: | 刘克宽 |
地址: | 523000 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本实用新型涉及芯片测试技术领域,特别涉及一种SOC芯片测量设备,该设备通过增加电压测试板来对soc芯片的电压参考源进行精准检测并将测试数据反馈给集成电路测试机,以便于集成电路测试机对芯片进行修调,另外,电压测试板由测试电路实现检测,并且通过参考电压电路为测试电路提供基准电压,确保测试电路的测试稳定精准。 | ||
搜索关键词: | 一种 soc 芯片 测量 设备 | ||
【主权项】:
一种SOC芯片测量设备,包括能够对待检测的SOC芯片进行功能测试的集成电路测试机,其特征在于:还包括电压测试板,所述电压测试板对待检测的SOC芯片的电压参考源进行电压测量并将测量数据反馈至所述集成电路测试机,所述电压测试板包括与所述待检测的SOC芯片连接的测试电路和为所述测试芯片提供基准电压的参考电压电路。
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