[实用新型]LED发光芯片检测装置有效

专利信息
申请号: 201520271920.7 申请日: 2015-04-30
公开(公告)号: CN204556224U 公开(公告)日: 2015-08-12
发明(设计)人: 顾燕萍 申请(专利权)人: 苏州承乐电子科技有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 南京正联知识产权代理有限公司 32243 代理人: 郭俊玲
地址: 215101 江苏省苏州市吴中*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 实用新型公开了一种LED发光芯片检测装置,包括底座、样品检测平台、照明光源、检测系统、强度测量仪、摄像头、分光器以及电脑处理器,本实用新型利用同轴光学检测系统对LED发光芯片进行检测,将相应通过同轴光学检测系统处理后进入电脑处理器分析处理,同时将其他影像数据通过摄像头传输给电脑处理器,并可以测量相应的光强度测量结果反馈至电脑处理器,经过电脑处理器分析处理后得出最终结果,本实用新型结构简单,设计合理,安装使用方便,适用范围广。
搜索关键词: led 发光 芯片 检测 装置
【主权项】:
一种LED发光芯片检测装置,其特征在于:包括底座(1)、样品检测平台(2)、照明光源(3)、检测系统(4)、强度测量仪(5)、摄像头(6)、分光器(7)以及电脑处理器(8),所述样品检测平台(2)设置在底座(1)上,所述照明光源(3)安装在样品的正上方,所述检测系统(4)与样品水平设置,所述检测系统(4)上端的光路出口通过光纤(9)连接分光器(7)后,再连接电脑处理器(8),检测系统(4)上端的数据接口一通过数据线连接强度测量仪(5)后连接电脑处理器(8),所述检测系统(4)末端的数据接口二通过数据线连接摄像头(6)后连接电脑处理器(8)。
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