[实用新型]过程测量系统对准装置和用于测量过程变量的系统有效

专利信息
申请号: 201520148031.1 申请日: 2015-03-16
公开(公告)号: CN204679124U 公开(公告)日: 2015-09-30
发明(设计)人: 约翰·亨利·司泰来氏;保罗·蒂莫西·迪根;戴维·克锐格·温特斯 申请(专利权)人: 迪特里奇标准公司
主分类号: G01F1/36 分类号: G01F1/36
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 孙纪泉
地址: 美国科*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 公开了多种系统、设备和方法,用于以过程测量系统的圆片型基本元件与过程管道对准的方式在过程管道之间连接所述基本元件,同时在出现对过程管道的动态冲击的情况中保持对准并防止泄漏。
搜索关键词: 过程 测量 系统 对准 装置 用于 变量
【主权项】:
一种过程测量系统对准装置,用于保持圆片型基本元件在第一过程管道和第二过程管道的法兰之间的对准,其特征在于,该过程测量系统对准装置包括:对准环,该对准环具有形成一内部区域的内表面,所述基本元件能够插入该内部区域内,使得对准环包围所述基本元件的至少一部分;沟槽,该沟槽形成在对准环中,并被构造成在所述基本元件插入对准环的内部区域中时接收基本元件的互连颈状部,使得基本元件的互连颈状部延伸到对准环之外;和多个法兰紧固件接收孔,所述多个法兰紧固件接收孔形成在对准环中,并被构造成与第一过程管道和第二过程管道的法兰中的法兰孔对准且接收延伸穿过对准的法兰孔的法兰紧固件。
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