[发明专利]一种用于双目光学探头与B超探头之间空间位置校准的方法及靶线体模在审

专利信息
申请号: 201511028170.1 申请日: 2015-12-31
公开(公告)号: CN105534596A 公开(公告)日: 2016-05-04
发明(设计)人: 马骁萧;冯宇 申请(专利权)人: 精微视达医疗科技(武汉)有限公司
主分类号: A61B34/20 分类号: A61B34/20
代理公司: 武汉东喻专利代理事务所(普通合伙) 42224 代理人: 宋业斌
地址: 430075 湖北省武汉市东湖开发区高*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明提供了一种用于双目光学探头与B超探头之间空间位置校准的方法及靶线体模,包括下述步骤:(1)根据B超图像和靶线体模对B超探头的位置进行调整,使得B超探头与靶线体模的相对位置确定;(2)将标准校准模版放置在靶线体模的指定位置上,使得标准校准模版与靶线体模的相对位置固定;根据双目光学探头识别到的目标获得第一坐标系O中每一个点的坐标(xyz1)T;并根据标准校准模版与靶线体模的相对位置获得第二坐标系o’中每一个点的坐标(x′y′z′1)T;并根据坐标(xyz1)T和坐标(x′y′z′1)T获得第一坐标系O与第二坐标系o’之间的坐标变换矩阵M;(3)根据坐标变换矩阵M以及B超探头与靶线体模的相对位置计算双目光学探头与B超探头之间的位置关系。本发明可以精确定位二者的相对位置关系。
搜索关键词: 一种 用于 双目 光学 探头 之间 空间 位置 校准 方法 靶线体模
【主权项】:
一种用于双目光学探头与B超探头之间空间位置校准的方法,其特征在于,包括下述步骤:(1)根据B超图像和靶线体模对B超探头的位置进行调整,使得所述B超探头与所述靶线体模的相对位置确定;(2)将标准校准模版放置在靶线体模的指定位置上,使得所述标准校准模版与所述靶线体模的相对位置固定;根据双目光学探头识别到的目标获得第一坐标系O中每一个点的坐标(x y z 1)T;并根据标准校准模版与靶线体模的相对位置获得第二坐标系O′中每一个点的坐标(x′ y′ z′ 1)T;并根据坐标(x y z 1)T和坐标(x′ y′ z′ 1)T获得第一坐标系O与第二坐标系O′之间的坐标变换矩阵M;(3)根据所述坐标变换矩阵M以及所述B超探头与所述靶线体模的相对位置计算双目光学探头与B超探头之间的位置关系。
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