[发明专利]一种测量大型抛物面天线重力变形的方法在审
| 申请号： | 201511009750.6 | 申请日： | 2015-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN105627977A | 公开（公告）日： | 2016-06-01 |
| 发明（设计）人： | 王锦清;虞林峰;江永琛;赵融冰;苟伟;沈志强 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海天文台 |
| 主分类号： | G01B21/32 | 分类号： | G01B21/32;G01C1/00 |
| 代理公司： | 上海智信专利代理有限公司 31002 | 代理人： | 邓琪;余中燕 |
| 地址： | 200030*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供一种测量大型抛物面天线重力变形的方法，包括以下步骤：提供参考天线，与被测天线组成甚长基线干涉仪；将参考天线始终对准射电源而被测天线围绕该射电源进行扫描，以使参考天线和被测天线分别接收该射电源发射的射电源信号；对被测天线和参考天线接收的两路射电源信号进行信号处理，以得到被测天线的口径场相位；当被测天线的俯仰角每转动预定角度时，重复执行一次前述步骤，以得到被测天线在相应俯仰角下的口径场相位，该口径场相位为主面精度对应的口径场相位；得到被测天线的副面位置偏移量随俯仰角的变化；得到被测天线的主面面形偏差随俯仰角的变化。本发明能够精确测量天线主面面形偏差和副面位置偏移分别随天线俯仰角的变化。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 大型 抛物面天线 重力 变形 方法 | ||
【主权项】：
一种测量大型抛物面天线重力变形的方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤S1，提供一参考天线，与被测天线组成甚长基线干涉仪；步骤S2，将参考天线始终对准一射电源而被测天线围绕该射电源进行扫描，以使参考天线和被测天线分别接收该射电源发射的射电源信号；步骤S3，对被测天线和参考天线接收的两路射电源信号进行信号处理，以得到被测天线的口径场相位；步骤S4，当被测天线的俯仰角每转动预定角度时，重复执行一次步骤S1‑S3，以得到被测天线在相应的各俯仰角下的口径场相位，该口径场相位为主面精度对应的口径场相位；步骤S5，获取各俯仰角下被测天线的副面位置偏移对应的口径场相位，并得到被测天线的副面位置偏移量随俯仰角的变化；以及步骤S6，将各俯仰角下被测天线的所述主面精度对应的口径场相位减去所述副面位置偏移对应的口径场相位，而得到各俯仰角下被测天线主面面形偏差对应的口径场相位，然后对所述主面面形偏差对应的口径场相位进行拟合而得到被测天线的主面面形偏差随俯仰角的变化。
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