[发明专利]一种利用声波测量地层密度方法及其探测装置在审
| 申请号： | 201510997058.2 | 申请日： | 2015-12-24 |
| 公开（公告）号： | CN105388528A | 公开（公告）日： | 2016-03-09 |
| 发明（设计）人： | 沈建国;孟超;沈永进 | 申请（专利权）人： | 天津大学 |
| 主分类号： | G01V1/44 | 分类号： | G01V1/44 |
| 代理公司： | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人： | 叶青 |
| 地址： | 300072*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种利用声波测量地层密度的方法，包括如下步骤：第一，将水平探头置于井内，垂直井壁入射超声波，超声波在井壁发生垂直反射，通过获得的入射波和反射波计算反射系数；第二，对步骤一中测量的波形进行傅里叶变换FFT获得其频谱，选取其中的极大值，利用频谱的极大值计算反射系数的值；第三，根据步骤一中的反射系数或步骤二中频谱的极大值获得的反射波系数，通过本发明提供的近似线性图版计算出地层的密度，该方法通过超声波对地层密度进行测量，避免了放射源对人体伤害和对环境的伤害；不用推靠器，提高了施工安全、降低了施工风险，保证了工作质量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 利用 声波 测量 地层 密度 方法 及其 探测 装置 | ||
【主权项】：
一种利用声波测量地层密度的方法，包括如下步骤：第一，将水平探头置于井内，垂直井壁入射超声波，通过获得的入射波和反射波计算反射系数；第二，对步骤一中测量的波形进行快速傅里叶变换FFT获得其频谱，利用频谱计算反射系数的变化值，选取其中的极大值；第三，根据步骤一中的反射系数或步骤二中频谱的极大值获得反射系数，通过线性图版计算出地层的密度。
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