[发明专利]一种用于PCF有效面积测量的光纤远场球面扫描装置及方法在审
申请号: | 201510980916.2 | 申请日: | 2015-12-24 |
公开(公告)号: | CN105547646A | 公开(公告)日: | 2016-05-04 |
发明(设计)人: | 韩正英;刘志明;高业胜;郑光金;赵耀;尚福洲 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 |
主分类号: | G01M11/00 | 分类号: | G01M11/00 |
代理公司: | 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 | 代理人: | 孙营营 |
地址: | 266555 山东省*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | 本发明提出了一种用于光子晶体光纤(PCF)有效面积测量的光纤远场球面扫描装置,包括:光纤准直系统、聚焦显微镜系统、光电探测器及电控位移平台;其中,待测的PCF由光纤准直系统进行调节,确保待测光纤出射端面位于电控位移台的共轭点上,并由显微镜聚焦系统来观测光纤端面的切割状况;安装在电控位移台上的光电探测器实时接收不同方位角下光纤端面出射光的远场光场分布,计算得到被测光子晶体光纤的有效面积参数。本发明采用光电编码器、数显表和锁相放大器数据采集系统,程控运行,测试精度高,受外界干扰小,能够满足不同种类结构下PCF有效面积的测试。 | ||
搜索关键词: | 一种 用于 pcf 有效面积 测量 光纤 球面 扫描 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种用于PCF有效面积测量的光纤远场球面扫描装置,其特征在于,包括:光纤准直系统、聚焦显微镜系统、光电探测器及电控位移平台;其中,待测的光子晶体光纤由光纤准直系统进行调节,确保待测光纤出射端面位于电控位移台的共轭点上,并由显微镜聚焦系统来观测光纤端面的切割状况;安装在电控位移台上的光电探测器实时接收不同方位角下光纤端面出射光的远场光场分布,计算得到被测光子晶体光纤的有效面积参数。
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