[发明专利]一种高温耦合场测量系统有效
申请号: | 201510930527.9 | 申请日: | 2015-12-15 |
公开(公告)号: | CN105352734B | 公开(公告)日: | 2019-02-15 |
发明(设计)人: | 任晓婉;张玉国 | 申请(专利权)人: | 北京振兴计量测试研究所 |
主分类号: | G01M15/00 | 分类号: | G01M15/00;G01D21/02 |
代理公司: | 北京天达知识产权代理事务所(普通合伙) 11386 | 代理人: | 左萌;马东伟 |
地址: | 100074 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及一种高温耦合场测量系统,包括:脉冲结构光激光器、远心光学系统、探测和图像采集系统以及远程测量控制系统,其中,脉冲结构光激光器,用于为该测量系统提供按照测试要求间隔时间进行工作的结构光激光光源,照射到被测物上;远心光学系统,用于对被测物按照一定比例倍率进行成像在探测和图像采集系统上;探测和图像采集系统,用于在热试验过程中,检测得到被测物体的温度、位移与应变;远程测量控制系统,用于在热试验过程中,控制所述探测和图像采集系统进行检测,并接收所述探测和图像采集系统反馈的温度、位移与应变;本发明能实现高温耦合场测量系统,能够对高温耦合场的温度、位移与应变进行测量,测量精度高,测量范围大。 | ||
搜索关键词: | 一种 高温 耦合 测量 系统 | ||
【主权项】:
1.一种高温耦合场测量系统,其特征在于,包括:脉冲结构光激光器、远心光学系统、探测和图像采集系统以及远程测量控制系统,其中,脉冲结构光激光器,用于为该测量系统提供按照测试要求间隔时间进行工作的结构光激光光源,照射到被测物上;远心光学系统,用于对被测物按照一定比例倍率进行成像在探测和图像采集系统上;探测和图像采集系统,用于在热试验过程中,当被测物体大小由于高温、振动影响发生位移偏移时,检测得到被测物体的温度、位移与应变;远程测量控制系统,用于在热试验过程中,控制所述探测和图像采集系统进行检测,并接收所述探测和图像采集系统反馈的温度、位移与应变;所述远心光学系统的光谱范围为400nm~900nm,其结构是由4组双胶合镜组组成,在第一组和第二组双胶合镜组之间放置滤光片,滤光片与第一组镜组之间的距离为15mm~20mm,滤光片与第二组镜组之间的距离为10mm~15mm,在第二组和第三组双胶合镜组之间放置衰减片,衰减片与第二组镜组之间的距离为10mm~15mm,衰减片与第三组镜组之间的距离为10mm~15mm;所述系统还包括:三维转台,用于承载所述脉冲结构光激光器、远心光学系统、探测和图像采集系统以及远程测量控制系统;所述系统还包括热防护外壳,用于将所述三维转台、脉冲结构光激光器、远心光学系统、探测和图像采集系统以及远程测量控制系统容纳其中,保证所述测量系统工作时不受外界环境的干扰。
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