[发明专利]一种100V肖特基二极管台面制作方法有效
申请号: | 201510920186.7 | 申请日: | 2015-12-10 |
公开(公告)号: | CN105355554B | 公开(公告)日: | 2019-01-18 |
发明(设计)人: | 张志向;杜林德 | 申请(专利权)人: | 天水天光半导体有限责任公司 |
主分类号: | H01L21/329 | 分类号: | H01L21/329;H01L29/47;H01L29/872 |
代理公司: | 甘肃省知识产权事务中心 62100 | 代理人: | 李琪 |
地址: | 741000*** | 国省代码: | 甘肃;62 |
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摘要: | 本发明属于电子元件技术领域,涉及一种100V肖特基二极管台面制作方法。本发明在于不增加产品尺寸的基础上,通过对势垒区台面腐蚀形成沟槽,达到增加肖特基势垒金属面积、降低正向压降的目的;硅腐蚀液中的HNO3对硅起氧化作用,HF对硅起腐蚀作用,HAC是在腐蚀过程对整个腐蚀过程起缓冲作用,使整个硅的过程沟槽表面均匀光滑;在衬底硅片势垒区上溅射Ni‑Pt60合金靶材,形成稳定的Ni‑Pt60合金镀层,利用金属Ni与Pt金属的不同特性,降低了漏电流和正向压降,提高了产品结温。 | ||
搜索关键词: | 一种 100 肖特基 二极管 台面 制作方法 | ||
【主权项】:
1.一种100V肖特基二极管台面制作方法,其特征在于,包括以下步骤:(1)、对衬底硅片进行清洗,甩干待用;(2)、对清洗后的衬底硅片进行初始氧化;(3)、对氧化后的衬底硅片正面进行基区光刻,在衬底硅片P+环上注入硼,再进行退火处理;(4)、对完成退火处理的衬底硅片进行引线孔光刻;(5)、在完成引线孔光刻的衬底硅片势垒区台面上进行台面光刻,形成沟槽图形;(6)、使用硅腐蚀液对衬底硅片势垒区台面上的沟槽图形进行腐蚀,使衬底硅片势垒区台面上形成完整的沟槽,所述沟槽图形由均匀排布的矩形单元格构成,单元格中设置有相互平行沟槽线,相邻单元格中的沟槽线相互垂直;(7)、对完成腐蚀的衬底硅片势垒区上溅射Ni‑Pt60合金靶材,形成Ni‑Pt60合金镀层,所述Ni‑Pt60合金中含Ni的质量占40%,Pt的质量占60%;(8)、对完成溅射的衬底硅片依次进行势垒区金属合金、势垒区金属腐蚀和势垒区金属清洗;(9)、对完成势垒区金属清洗的衬底硅片依次进行Ti金属蒸发、Ni金属蒸发和Ag金属蒸发,使得衬底硅片上由内向外形成Ti金属镀层、Ni金属镀层和Ag金属镀层;(10)、对完成金属蒸发的衬底硅片依次进行正面金属光刻、正面金属腐蚀、正面金属去胶和正面金属合金;(11)、对完成正面金属合金的衬底硅片进行电性测试、减薄、背面去应力腐蚀,划片入库。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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