[发明专利]一种近场步进扫描成像光谱仪的数据处理方法在审

专利信息
申请号: 201510890846.1 申请日: 2015-12-07
公开(公告)号: CN105551023A 公开(公告)日: 2016-05-04
发明(设计)人: 廉玉生;刘瑜;黄敏;徐艳芳;金杨 申请(专利权)人: 北京印刷学院
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00
代理公司: 北京国坤专利代理事务所(普通合伙) 11491 代理人: 姜彦
地址: 102600 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种近场大孔径傅里叶变换成像光谱仪的数据处理方法,包括以下几个步骤:步骤一:利用大孔径时空联合调制干涉成像光谱仪,以步进扫描的方式获取目标的像面干涉图序列;步骤二:利用像面干涉图序列生成的快视图,判断图像序列的采样情况,保证过采样的扫描方式;步骤三:计算扫描步长误差。步骤四:对像面干涉图序列进行校正,获取像面干涉数据立方体。步骤五:对校正后的像面干涉立方体进行重组,获取目标的像素干涉数据立方体;步骤六:对像素干涉立方体进行傅里叶变换复原得到目标的光谱数据立方体。本发明的方法基于微弱近场目标探测的大孔径时空联合调制傅里叶换光谱成像机理,对像面干涉图序列进行校正重组,解决了近场步进扫描的步长误差问题。
搜索关键词: 一种 近场 步进 扫描 成像 光谱仪 数据处理 方法
【主权项】:
一种近场步进扫描成像光谱仪的数据处理方法,其特征在于:依次包括以下几个步骤:步骤1:利用近场大孔径时空联合调制干涉成像光谱仪,通过步进扫描的方法获取目标的原始像面干涉图序列;步骤2:利用原始像面干涉图生成快视图,并判断采样情况,以保证扫描方式为过采样扫描;步骤3:根据目标中某一像素点在像面干涉图序列中的不同像元位置,计算图像在像面上的扫描步长与探测器单像元宽度的误差;步骤4:对原始像面干涉图序列进行判别并校正,得到校正后的像面干涉数据立方体;步骤5:对校正后的像面干涉数据立方体进行重组,获取目标的像素干涉数据立方体;步骤6:对像素干涉立方体进行傅里叶变换复原得到目标的光谱数据立方体。
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