[发明专利]用于圆棒材的缺陷检测设备、方法及缺陷消除系统在审
申请号: | 201510854851.7 | 申请日: | 2015-11-30 |
公开(公告)号: | CN105458017A | 公开(公告)日: | 2016-04-06 |
发明(设计)人: | 姚柳 | 申请(专利权)人: | 张家港江苏科技大学产业技术研究院 |
主分类号: | B21B38/00 | 分类号: | B21B38/00;B21B37/00 |
代理公司: | 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 | 代理人: | 周美华 |
地址: | 215600 江苏省苏州市长*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种用于圆棒材的缺陷检测设备、方法及缺陷消除系统,其中该设备包括能绕圆棒材的中轴线作旋转运动的第一检测装置,其包括同轴且顺次排布的第一凹面镜、第一紫外线光源、第一滤光片和第一光学传感器;第一紫外线光源位于第一凹面镜的焦点处;圆棒材位于第一紫外线光源和第一滤光片之间,其中轴线与第一凹面镜的主轴垂直相交,其预设直径小于经第一凹面镜反射后形成的紫外平行光束的光斑直径;第一滤光片用于滤除红外光和可见光,透射紫外光;第一光学传感器,用于检测紫外平行光束经圆棒材部分遮挡且经第一滤光片透射后形成的光斑图像,产生第一电阻值。本发明具有检测精度高、成本低、算法简单、检测效率高的优点。 | ||
搜索关键词: | 用于 圆棒材 缺陷 检测 设备 方法 消除 系统 | ||
【主权项】:
一种用于圆棒材的缺陷检测设备,其特征在于,包括能绕所述圆棒材(3)的中轴线作旋转运动的第一检测装置(1);所述第一检测装置(1)包括同轴且顺次排布的第一凹面镜(12)、第一紫外线光源(11)、第一滤光片(13)和第一光学传感器(14);所述第一紫外线光源(11),位于所述第一凹面镜(12)的焦点处;所述圆棒材(3),位于所述第一紫外线光源(11)和所述第一滤光片(13)之间,其中轴线与所述第一凹面镜(12)的主轴垂直相交,其预设直径小于经所述第一凹面镜(12)反射后形成的紫外平行光束的光斑直径;所述第一滤光片(13),用于滤除红外光和可见光,透射紫外光;所述第一光学传感器(14),用于检测所述紫外平行光束经所述圆棒材(3)部分遮挡且经所述第一滤光片(13)透射后形成的光斑图像,产生第一电阻值。
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