[发明专利]一种微位移测试系统用RMS转换电路在审
申请号: | 201510829852.6 | 申请日: | 2015-11-25 |
公开(公告)号: | CN105515406A | 公开(公告)日: | 2016-04-20 |
发明(设计)人: | 李荣正;李慧妍;姜彪 | 申请(专利权)人: | 上海工程技术大学 |
主分类号: | H02M7/04 | 分类号: | H02M7/04 |
代理公司: | 上海兆丰知识产权代理事务所(有限合伙) 31241 | 代理人: | 屠轶凡 |
地址: | 201620 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 一种微位移测试系统用RMS转换电路,包括一块交流转直流转换芯片;交流转直流转换芯片上设有SUM引脚、RMS引脚,IBFOUT引脚、IBFIN-引脚、IBFIN+引脚、IGND引脚、IBFGN引脚、OGND引脚、VSS引脚、OBFIN-引脚、OBFOUT2引脚;IBFIN-引脚和IBFOUT引脚短接,并通过极性电容E3连接RMS引脚,其中极性电容E3的正极连接RMS引脚,负极同时连接IBFIN-引脚和IBFOUT引脚;IBFIN+引脚通过电阻R10接地,并用于接收线性可变差动变压器式传感器输出的正弦信号;IGND引脚和OGND引脚同时接地,VSS引脚连接-5V电源;OBFIN-引脚和OBFOUT2引脚短接,并通过依次串联的电阻R11和电阻R12接地,其中电阻R12上并联有极性电容E5,其中极性电容E5的正极连接电阻R11,负极接地。 | ||
搜索关键词: | 一种 位移 测试 系统 rms 转换 电路 | ||
【主权项】:
一种微位移测试系统用RMS转换电路,包括一块交流转直流转换芯片,其特征在于:所述交流转直流转换芯片上设有SUM引脚、RMS引脚,IBFOUT引脚、IBFIN‑引脚、IBFIN+引脚、IGND引脚、IBFGN引脚、OGND引脚、VSS引脚、OBFIN‑引脚、OBFOUT2引脚;所述IBFIN‑引脚和所述IBFOUT引脚短接,并通过极性电容E3连接所述RMS引脚,其中所述极性电容E3的正极连接所述RMS引脚,负极同时连接所述IBFIN‑引脚和所述IBFOUT引脚;所述IBFIN+引脚通过电阻R10接地,并用于接收线性可变差动变压器式传感器输出的正弦信号;所述IGND引脚和所述OGND引脚同时接地,所述VSS引脚连接‑5V电源;所述OBFIN‑引脚和所述OBFOUT2引脚短接,并通过依次串联的电阻R11和电阻R12接地,其中所述电阻R12上并联有极性电容E5,其中所述极性电容E5的正极连接所述电阻R11,所述负极接地,经过交流转直流转换后的直流信号从所述极性电容E5的正极输出。
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