[发明专利]一种微位移测试系统用RMS转换电路在审

专利信息
申请号: 201510829852.6 申请日: 2015-11-25
公开(公告)号: CN105515406A 公开(公告)日: 2016-04-20
发明(设计)人: 李荣正;李慧妍;姜彪 申请(专利权)人: 上海工程技术大学
主分类号: H02M7/04 分类号: H02M7/04
代理公司: 上海兆丰知识产权代理事务所(有限合伙) 31241 代理人: 屠轶凡
地址: 201620 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 位移 测试 系统 rms 转换 电路
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种微位移测试系统用RMS转换电路。

背景技术

微位移测试系统用RMS转换电路主要实现将双极性正弦波信号转换成 直流信号。在一般应用中,常用的方法是精密整流方式,把交流电变为单 向脉动电,称为整流,若能把微弱的交流电转换成单向脉动电,则称为精 密整流或精密检波。

由于二极管的伏安特性在小信号时处于截止或特性曲线的弯曲部分, 一般利用二极管的单向导电性来组成整流电路,在小信号检波时输出端将 得不到原信号,或使原信号失真很大。如果把二极管置于运算放大器组成 的负反馈环路中,就能大大削弱这种影响,提高电路精度。

精密整流中存在二极管,而二极管温度特性较差,对于一般的应用精 密整流电路还是适用的,但是针对高精度的应用场合就不是最佳选择了。

发明内容

本发明的目的是为了克服现有技术的不足,提供一种微位移测试系统 用RMS转换电路,可以接收线性可变差动变压器式传感器输出的正弦信号, 并正确输出相应的直流信号,确保其在微位移测试系统的正常使用。

实现上述目的的一种技术方案是:一种微位移测试系统用RMS转换电 路,包括一块交流转直流转换芯片;

所述交流转直流转换芯片上设有SUM引脚、RMS引脚,IBFOUT引脚、 IBFIN-引脚、IBFIN+引脚、IGND引脚、IBFGN引脚、OGND引脚、VSS引脚、 OBFIN-引脚、OBFOUT2引脚;

所述IBFIN-引脚和所述IBFOUT引脚短接,并通过极性电容E3连接 所述RMS引脚,其中所述极性电容E3的正极连接所述RMS引脚,负极同 时连接所述IBFIN-引脚和所述IBFOUT引脚;

所述IBFIN+引脚通过电阻R10接地,并用于接收线性可变差动变压器 式传感器输出的正弦信号;所述IGND引脚和所述OGND引脚同时接地,所 述VSS引脚连接-5V电源;

所述OBFIN-引脚和所述OBFOUT2引脚短接,并通过依次串联的电阻R11 和电阻R12接地,其中所述电阻R12上并联有极性电容E5,其中所述极性 电容E5的正极连接所述电阻R11,所述负极接地,经过交流转直流转换后 的直流信号从所述极性电容E5的正极输出。

进一步的,该交流流转直流转换芯片上还设有CCF引脚、CAVG、VCC 引脚、IBFV+引脚和OBFOUT1引脚,其中所述CFF引脚通过电容C9连接+5V 电源,所述CAVG引脚通过相互并联设置的极性电容E2和电容C8连接+5V 电源,所述极性电容E2的正极连接+5V电源,负极连接所述CAVG引脚, 所述OBFOUT1引脚、所述IBFV+引脚和所述VCC引脚同时短接+5V电源。

进一步的,该交流流转直流转换芯片上还设有OUT引脚和OBFIN+引脚, 所述OUT引脚和所述OBFIN+引脚短接并通过极性电容E4接地,其中所述 极性电容E4的正极同时连接所述OUT引脚和所述OBFIN+引脚,负极接地。

进一步的,该交流转直流转换芯片为德州仪器的AD8436型交流转直 流转换芯片。

采用了本发明的一种微位移测试系统用RMS转换电路的技术方案,包 括一块交流转直流转换芯片;所述交流转直流转换芯片上设有SUM引脚、 RMS引脚,IBFOUT引脚、IBFIN-引脚、IBFIN+引脚、IGND引脚、IBFGN引 脚、OGND引脚、VSS引脚、OBFIN-引脚、OBFOUT2引脚;所述IBFIN-引 脚和所述IBFOUT引脚短接,并通过极性电容E3连接所述RMS引脚,其中 所述极性电容E3的正极连接所述RMS引脚,负极同时连接所述IBFIN-引 脚和所述IBFOUT引脚;所述IBFIN+引脚通过电阻R10接地,并用于接收 线性可变差动变压器式传感器输出的正弦信号;所述IGND引脚和所述OGND 引脚同时接地,所述VSS引脚连接-5V电源;所述OBFIN-引脚和所述 OBFOUT2引脚短接,并通过依次串联的电阻R11和电阻R12接地,其中所 述电阻R12上并联有极性电容E5,其中所述极性电容E5的正极连接所述 电阻R11,所述负极接地,经过交流转直流转换后的直流信号从所述极性 电容E5的正极输出。其技术效果是:可以接收线性可变差动变压器式传 感器输出的正弦信号,并正确输出相应的直流信号,确保其在微位移测试 系统的正常使用。

附图说明

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