[发明专利]一种微位移测试系统用RMS转换电路在审
申请号: | 201510829852.6 | 申请日: | 2015-11-25 |
公开(公告)号: | CN105515406A | 公开(公告)日: | 2016-04-20 |
发明(设计)人: | 李荣正;李慧妍;姜彪 | 申请(专利权)人: | 上海工程技术大学 |
主分类号: | H02M7/04 | 分类号: | H02M7/04 |
代理公司: | 上海兆丰知识产权代理事务所(有限合伙) 31241 | 代理人: | 屠轶凡 |
地址: | 201620 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 位移 测试 系统 rms 转换 电路 | ||
1.一种微位移测试系统用RMS转换电路,包括一块交流转直流转换 芯片,其特征在于:
所述交流转直流转换芯片上设有SUM引脚、RMS引脚,IBFOUT引脚、 IBFIN-引脚、IBFIN+引脚、IGND引脚、IBFGN引脚、OGND引脚、VSS引脚、 OBFIN-引脚、OBFOUT2引脚;
所述IBFIN-引脚和所述IBFOUT引脚短接,并通过极性电容E3连接 所述RMS引脚,其中所述极性电容E3的正极连接所述RMS引脚,负极同 时连接所述IBFIN-引脚和所述IBFOUT引脚;
所述IBFIN+引脚通过电阻R10接地,并用于接收线性可变差动变压器 式传感器输出的正弦信号;所述IGND引脚和所述OGND引脚同时接地,所 述VSS引脚连接-5V电源;
所述OBFIN-引脚和所述OBFOUT2引脚短接,并通过依次串联的电阻R11 和电阻R12接地,其中所述电阻R12上并联有极性电容E5,其中所述极性 电容E5的正极连接所述电阻R11,所述负极接地,经过交流转直流转换后 的直流信号从所述极性电容E5的正极输出。
2.根据权利要求1所述的一种微位移测试系统用RMS转换电路,其 特征在于:该交流流转直流转换芯片上还设有CCF引脚、CAVG、VCC引脚、 IBFV+引脚和OBFOUT1引脚,其中所述CFF引脚通过电容C9连接+5V电源, 所述CAVG引脚通过相互并联设置的极性电容E2和电容C8连接+5V电源, 所述极性电容E2的正极连接+5V电源,负极连接所述CAVG引脚,所述 OBFOUT1引脚、所述IBFV+引脚和所述VCC引脚同时短接+5V电源。
3.根据权利要求1所述的一种微位移测试系统用RMS转换电路,其 特征在于:该交流流转直流转换芯片上还设有OUT引脚和OBFIN+引脚,所 述OUT引脚和所述OBFIN+引脚短接并通过极性电容E4接地,其中所述极 性电容E4的正极同时连接所述OUT引脚和所述OBFIN+引脚,负极接地。
4.根据权利要求1所述的一种微位移测试系统用RMS转换电路,其 特征在于:该交流转直流转换芯片为德州仪器的AD8436型交流转直流转 换芯片。
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