[发明专利]显影装置及光刻设备有效

专利信息
申请号: 201510667135.8 申请日: 2015-10-15
公开(公告)号: CN105116695B 公开(公告)日: 2019-09-17
发明(设计)人: 刘明悬;陈曦;张小祥;郭会斌;袁剑峰;孙增标;罗丽平;刘会双;闵苏 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司
主分类号: G03F7/30 分类号: G03F7/30
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 彭瑞欣;陈源
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种显影装置及光刻设备,所述显影装置包括显影腔室,所述显影腔室用于容纳待显影的基板,所述显影装置还包括加热机构;所述加热机构包括多个加热件,多个所述加热件设置在所述显影腔室内,以对显影腔室内的位于所述加热机构上方或下方的基板的不同显影位置进行加热,且多个所述加热件能够分别独立控制加热。
搜索关键词: 显影 装置 光刻 设备
【主权项】:
1.一种显影装置,包括显影腔室,所述显影腔室用于容纳待显影的基板,其特征在于,所述显影装置还包括加热机构;所述加热机构包括多个加热件,多个所述加热件设置在所述显影腔室内,以对显影腔室内的位于所述加热机构上方或下方的基板的不同显影位置进行加热;所述显影装置还包括控制机构,所述控制机构能够根据所述基板在未受热的情况下所述基板上各个显影位置的显影速度控制各个所述加热件的开启状态和/或加热温度,以使得在显影过程中所述基板的多个显影位置的显影速度相同;所述显影装置还包括厚度测量机构,所述厚度测量机构用于分别在显影前和显影后测量所述基板上各个显影位置的光刻胶的厚度,并将各个显影位置的位置信息及其在显影前和显影后的光刻胶的厚度提供给所述控制机构;所述控制机构能够根据所述基板上各个显影位置在显影前的光刻胶厚度和显影后的光刻胶厚度计算各个显影位置的光刻胶的溶解速度,作为所述未受热的情况下所述基板上对应的显影位置的显影速度。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司,未经京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510667135.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top