[发明专利]通过正电子探针定位腔体内壁缺陷的无损检测系统及检测方法有效

专利信息
申请号: 201510552785.8 申请日: 2015-09-01
公开(公告)号: CN105158278B 公开(公告)日: 2018-01-02
发明(设计)人: 刘兼唐;肖辉;赵敏;姚敏;陈皓 申请(专利权)人: 南京航空航天大学
主分类号: G01N23/00 分类号: G01N23/00
代理公司: 江苏圣典律师事务所32237 代理人: 贺翔
地址: 210016 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开一种通过正电子探针定位腔体内壁缺陷的无损检测系统及检测方法,检测系统包括硬件部分和软件部分,硬件部分包括底座;位于底座上的待测零件前端支架、待测零件后端支架和带光栅尺的气浮导轨模组;待测零件;安装于带光栅尺的气浮导轨模组上的环形探测器支架;安装于环形探测器支架内的环形探测器阵列;位于底座上的正电子探针源铅室;连接于正电子探针源铅室和待测零件之间的正电子探针液体循环输入管和正电子探针液体循环输出管。软件部分包括探测器记录正电子湮没产生的γ光子数的计数模块;γ光子均分补偿的最大似然估计数学模型模块;基于有序子集最大期望的模型求解模块;基于最大类间方差的图像增强模块以及3D图像合成模块。
搜索关键词: 通过 正电子 探针 定位 体内 缺陷 无损 检测 系统 方法
【主权项】:
一种通过正电子探针定位腔体内壁缺陷的无损检测系统,包括硬件部分和软件部分,其特征在于:所述硬件部分包括底座(10);位于底座(10)上的待测零件前端支架(7)、待测零件后端支架(8)和带光栅尺的气浮导轨模组(3);同时放置于待测零件前端支架(7)和待测零件后端支架(8)上的待测零件(9);安装于带光栅尺的气浮导轨模组(3)上且环绕于待测零件(9)外围的环形探测器支架(2);安装于环形探测器支架(2)内的环形探测器阵列(1);位于底座(10)上的且位于待测零件前端支架(7)下方的正电子探针源铅室(4);连接于正电子探针源铅室(4)和待测零件(9)之间的正电子探针液体循环输入管(5)和正电子探针液体循环输出管(6);所述软件部分包括以下5个程序模块:探测器记录正电子湮没产生的γ光子数的计数模块;γ光子均分补偿的最大似然估计数学模型模块;基于有序子集最大期望的模型求解模块;基于最大类间方差的图像增强模块以及3D图像合成模块。
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