[发明专利]星体次表层遥感探测雷达回波模拟及参数反演方法在审
申请号: | 201510546983.3 | 申请日: | 2015-08-31 |
公开(公告)号: | CN105093203A | 公开(公告)日: | 2015-11-25 |
发明(设计)人: | 张晓娟;吴超;饶丽婷;方广有 | 申请(专利权)人: | 中国科学院电子学研究所 |
主分类号: | G01S7/41 | 分类号: | G01S7/41;G01S7/40 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 吕雁葭 |
地址: | 100190 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种基于微波遥感的星体次表层探测雷达回波模拟及参数反演方法。本发明使用精确模拟星体表面和次表面等多层分层粗糙面的散射回波信号来进行正演模型建立,根据精确模拟的雷达探测回波信号,对实际观测的雷达回波信号进行解释。根据建立的分层介质散射回波正演模型,采用改进的反演算法进行星体分层介质特性参数准确计算。 | ||
搜索关键词: | 星体 表层 遥感 探测 雷达 回波 模拟 参数 反演 方法 | ||
【主权项】:
一种星体次表层遥感探测雷达回波模拟方法,所述次表层为最底媒质层,该方法包括:步骤A1:对星体表面高程数据进行数值插值处理,获取高分辨率地形分布高程数据;步骤A2:对雷达照射区域的高分辨率地形分布高程数据和该照射区域次表面粗糙面进行三角面元剖分;以及步骤A3:对雷达天线接收到的分层介质散射回波进行数据模拟,以建立正演模型。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院电子学研究所,未经中国科学院电子学研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201510546983.3/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:飞行时间传感器中的波形重构
- 下一篇:一种便携式直升机高度表微波延迟装置