[发明专利]一种红外成像芯片真空封装结构在审
申请号: | 201510534150.5 | 申请日: | 2015-08-27 |
公开(公告)号: | CN105244384A | 公开(公告)日: | 2016-01-13 |
发明(设计)人: | 尤为 | 申请(专利权)人: | 无锡伊佩克科技有限公司 |
主分类号: | H01L31/0203 | 分类号: | H01L31/0203 |
代理公司: | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人: | 许方 |
地址: | 214000 江苏省无*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种红外成像芯片真空封装结构,包括红外窗口、红外成像芯片、两个垫片、吸气剂、可见光窗口;其中,垫片键合在可见光窗口的上表面,形成用于真空封装的腔体,所述红外成像芯片和吸气剂设置在腔体内,吸气剂位于红外成像芯片与可见光窗口的上表面之间,红外窗口键合到腔体上,形成真空密封腔体。本发明可以选择性增透波长8~14μm的红外辐射,有效地保护内部脆弱的芯片结构,封闭性能好;该真空封装结构的空气漏率低;本发明封装结构简单、功耗低且成本低。 | ||
搜索关键词: | 一种 红外 成像 芯片 真空 封装 结构 | ||
【主权项】:
一种红外成像芯片真空封装结构,其特征在于,包括红外窗口、红外成像芯片、两个垫片、吸气剂、可见光窗口;其中,垫片键合在可见光窗口的上表面,形成用于真空封装的腔体,所述红外成像芯片和吸气剂设置在腔体内,吸气剂位于红外成像芯片与可见光窗口的上表面之间,红外窗口键合到腔体上,形成真空密封腔体。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的