[发明专利]一种红外成像芯片真空封装结构在审

专利信息
申请号: 201510534150.5 申请日: 2015-08-27
公开(公告)号: CN105244384A 公开(公告)日: 2016-01-13
发明(设计)人: 尤为 申请(专利权)人: 无锡伊佩克科技有限公司
主分类号: H01L31/0203 分类号: H01L31/0203
代理公司: 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 代理人: 许方
地址: 214000 江苏省无*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种红外成像芯片真空封装结构,包括红外窗口、红外成像芯片、两个垫片、吸气剂、可见光窗口;其中,垫片键合在可见光窗口的上表面,形成用于真空封装的腔体,所述红外成像芯片和吸气剂设置在腔体内,吸气剂位于红外成像芯片与可见光窗口的上表面之间,红外窗口键合到腔体上,形成真空密封腔体。本发明可以选择性增透波长8~14μm的红外辐射,有效地保护内部脆弱的芯片结构,封闭性能好;该真空封装结构的空气漏率低;本发明封装结构简单、功耗低且成本低。
搜索关键词: 一种 红外 成像 芯片 真空 封装 结构
【主权项】:
一种红外成像芯片真空封装结构,其特征在于,包括红外窗口、红外成像芯片、两个垫片、吸气剂、可见光窗口;其中,垫片键合在可见光窗口的上表面,形成用于真空封装的腔体,所述红外成像芯片和吸气剂设置在腔体内,吸气剂位于红外成像芯片与可见光窗口的上表面之间,红外窗口键合到腔体上,形成真空密封腔体。
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