[发明专利]LED外延层结构生长方法及所得外延层结构和LED芯片有效

专利信息
申请号: 201510502776.8 申请日: 2015-08-14
公开(公告)号: CN105118904B 公开(公告)日: 2017-11-17
发明(设计)人: 郭嘉杰;苏军;徐迪 申请(专利权)人: 湘能华磊光电股份有限公司
主分类号: H01L33/32 分类号: H01L33/32;H01L33/04
代理公司: 长沙智嵘专利代理事务所43211 代理人: 黄子平
地址: 423038 湖南省*** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明提供了LED外延层结构生长方法及所得外延层结构和LED芯片,其中LED外延层结构的生长方法,包括生长P型AlGaN层和设置于P型AlGaN层顶面上的第一P型GaN层的步骤,还包括在P型AlGaN层和第一P型GaN层之间生长遮蔽层的步骤,遮蔽层为P型AlGaN/InGaN超晶格结构;生长P型AlGaN层时生长温度为750~800℃,Al掺杂浓度为1.8E+20~2.2E+20atom/cm3,Mg掺杂浓度为1E+20~2E+20atom/cm3;生长P型AlGaN/InGaN超晶格结构时生长温度为850~900℃,Mg掺杂浓度为2E+20~3E+20atom/cm3。本发明提供的LED外延层结构中将P型AlGaN/InGaN超晶格结构插入P型AlGaN层和P型GaN层之间,一方面既阻挡了来自量子阱区的大量位错缺陷,防止这些位错缺陷与P型GaN层之间形成漏电通道,同时增强阻挡电子从多量子阱区外溢的能力。
搜索关键词: led 外延 结构 生长 方法 所得 芯片
【主权项】:
一种LED外延层结构的生长方法,包括生长P型AlGaN层和设置于所述P型AlGaN层顶面上的第一P型GaN层的步骤,其特征在于,还包括在所述P型AlGaN层和所述第一P型GaN层之间生长遮蔽层的步骤,所述遮蔽层为P型AlGaN/InGaN超晶格结构;生长所述P型AlGaN层时生长温度为750~800℃,Al掺杂浓度为1.8E+20~2.2E+20atom/cm3,Mg掺杂浓度为1E+20~2E+20atom/cm3;生长所述P型AlGaN/InGaN超晶格结构时生长温度为850~900℃,Mg掺杂浓度为2E+20~3E+20atom/cm3;所述P型AlGaN/InGaN超晶格结构中包括多个依次叠置的超晶格单元,所述超晶格单元由超晶格P型AlyGa(1‑y)N层和叠置于所述超晶格P型AlyGa(1‑y)N层上的超晶格P型InxGa(1‑x)N层组成;所述超晶格P型InxGa(1‑x)N层的厚度为1~2nm,所述超晶格P型AlyGa(1‑y)N层的厚度为2~4nm,所述超晶格单元数为5~8个;其中x=0.2~0.3,y=0.1~0.2。
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