[发明专利]适用于MEMS麦克风的光掩膜结构及其制作方法有效
申请号: | 201510464792.2 | 申请日: | 2015-07-31 |
公开(公告)号: | CN105159027B | 公开(公告)日: | 2019-09-10 |
发明(设计)人: | 王琳琳;周晔;刘政谚;孟珍奎 | 申请(专利权)人: | 瑞声声学科技(深圳)有限公司 |
主分类号: | G03F1/42 | 分类号: | G03F1/42 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518057 广东省深圳市南山区高*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明提供一种适用于MEMS麦克风的光掩膜结构,所述光掩膜结构包括SOI基板和形成在所述SOI基板的阶梯型开口;所述SOI基板包括硅衬底、中间绝缘层和硅顶层,所述中间绝缘层位于所述硅衬底和所述硅顶层之间;所述阶梯型开口包括第一开口部和第二开口部,其中所述第一开口部贯穿所述硅顶层且其开口面积与待制作的连接盘的面积相对应,所述第二开口部至少贯穿所述硅衬底并与所述第一开口部相连通,所述第二开口部的开口面积大于所述第一开口部。本发明还提供一种所述光掩膜结构的制作方法。 | ||
搜索关键词: | 适用于 mems 麦克风 膜结构 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
1.一种适用于MEMS麦克风的光掩膜结构,其用于在MEMS麦克风芯片上制作连接盘,其特征在于,包括SOI基板和形成在所述SOI基板的阶梯型开口;所述光掩膜结构位于所述MEMS麦克风芯片的上方;所述SOI基板包括硅衬底、中间绝缘层和硅顶层,所述中间绝缘层位于所述硅衬底和所述硅顶层之间;所述阶梯型开口包括第一开口部和第二开口部,其中所述第一开口部贯穿所述硅顶层且其开口面积与待制作的连接盘的面积相对应,所述第二开口部至少贯穿所述硅衬底并与所述第一开口部相连通,所述第二开口部的开口面积大于所述第一开口部。
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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