[发明专利]一种提高光时域反射计动态范围的信号检测装置及方法有效
申请号: | 201510440108.7 | 申请日: | 2015-07-24 |
公开(公告)号: | CN105136429B | 公开(公告)日: | 2018-03-23 |
发明(设计)人: | 龚萍;谢亮;赖思良;孙菲 | 申请(专利权)人: | 中国科学院半导体研究所 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司11021 | 代理人: | 任岩 |
地址: | 100083 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种提高光时域反射计动态范围的信号检测装置及方法,该信号检测装置包括雪崩光电二极管、跨阻放大器、分频电路、高电压放大电路、低电压放大电路、高模数转换器、低模数转换器、现场可编程门阵列、数模转换器和升压芯片。经过分频电路分频后的高频模拟信号和低频模拟信号分别由高模数转换器和低模数转换器采集,由现场可编程门阵列提供同步时钟信号,并对采集的数据进行数据处理,合成高频信号和低频信号的采集结果,得到测试结果。本发明利用菲涅尔反射和瑞利后向散射不同的频率特性,解决了由于菲涅尔反射的强度远大于瑞利后向散射的强度限制检测系统的动态范围的问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 提高 时域 反射 动态 范围 信号 检测 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种提高光时域反射计动态范围的信号检测装置,其特征在于,该信号检测装置包括雪崩光电二极管(1)、跨阻放大器(2)、分频电路(3)、高电压放大电路(4)、低电压放大电路(5)、高模数转换器(6)、低模数转换器(7)、现场可编程门阵列(10)、数模转换器(9)和升压芯片(8),其中,雪崩光电二极管(1)、跨阻放大器(2)和分频电路(3)依次连接,分频电路(3)分别连接于高电压放大电路(4)和低电压放大电路(5),高电压放大电路(4)连接于高模数转换器(6),低电压放大电路(5)连接于低模数转换器(7),高模数转换器(6)和低模数转换器(7)均连接于现场可编程门阵列(10),现场可编程门阵列(10)、数模转换器(9)和升压芯片(8)依次连接,且升压芯片(8)还连接于雪崩光电二极管(1);其中,所述高电压放大电路(4)用来放大分频电路(3)分频之后的高频模拟信号,该高频模拟信号为菲涅尔反射信号;所述低电压放大电路(5)用来放大分频电路(3)分频之后的低频模拟信号,该低频模拟信号为瑞利后向散射信号;由于瑞利后向散射信号强度远小于菲涅尔反射强度,因此低电压放大电路(5)的增益应远大于高电压放大电路(4)的增益。
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