[发明专利]电子元件外观检测装置及其检测方法在审
| 申请号： | 201510437460.5 | 申请日： | 2015-07-23 |
| 公开（公告）号： | CN106370666A | 公开（公告）日： | 2017-02-01 |
| 发明（设计）人： | 张仁明;陈正锴;刘子诚;林轩民;杨景钦 | 申请（专利权）人： | 台达电子工业股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/89 | 分类号： | G01N21/89;B07C5/34;B07C5/02 |
| 代理公司： | 北京律诚同业知识产权代理有限公司11006 | 代理人： | 王玉双,李岩 |
| 地址： | 中国台湾*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种电子元件外观检测装置及其检测方法。电子元件外观检测装置包括输送机构、传感器、多个取像模块及控制器。输送机构输送电子元件，传感器于检测电子元件通过时发出触发信号，控制器于收到触发信号时取得输送电子元件至多个取像位置所需的多个时间区间，并分别于计时多个时间区间经过时驱动对应的取像模块撷取电子元件的元件影像，并且对元件影像进行瑕疵检测处理以产生检测结果。 | ||
| 搜索关键词： | 电子元件 外观 检测 装置 及其 方法 | ||
【主权项】：
一种电子元件外观检测装置，其特征在于，包括：一基座；一输送机构，包括设置于该基座的一马达及用以输送一电子元件的一旋转盘；一传感器，于检测该电子元件通过时发出一触发信号；多个取像模块，分别配置于邻近该旋转盘的多个取像位置，并对该电子元件进行影像撷取；及一控制器，电性连接该传感器及该多个取像模块，包括：一时间取得模块，于收到该触发信号时取得输送该电子元件至各该取像位置分别所需的多个时间区间；一计时模块，于计时各该时间区间经过时，分别发出对应的一影像撷取信号；一撷取控制模块，依据该多个影像撷取信号分别驱动该多个取像模块撷取多个元件影像；及一检测模块，依据该多个元件影像进行一瑕疵检测处理，并产生一检测结果。
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