[发明专利]测量溶液中微小颗粒的结构的方法

摘要

本发明涉及测量溶液中微小颗粒的结构的方法。凭借所提出的方法，可以通过光散射方式测量溶液中各种结构和高达几百纳米尺寸的微小颗粒。描述一种创造性技术，其准许扩展传统的瑞利-甘斯近似，由此允许在更大尺寸范围内测量颗粒的均方半径。此类确定不需要将所收集的数据拟合到任何情况下仅有少数存在的具体封闭形式模型。该新方法对于确定不规则颗粒的结构特征特别重要，该不规则颗粒根据它们相对于入射照明方向的取向而散射。

主权项

一种测量主要包括单分散颗粒的样品分馏物中的颗粒的均方半径的方法，包括以下步骤：A)通过细光束照射所述样品分馏物；B)在n个散射角测量此样品散射的光；C)通过最小二乘法将多项式函数拟合到在所述n个散射角收集的数据，推导所述函数，其中ξ＝sin²(θ/2)并且m≤n‑1；D)由此推导系数c₀,c₁,…,c_m；E)形成函数Π(θ)＝f_m(ξ)/c₀；以及F)根据$\<{r_g}^2\>=\underset{\mathrm{\θ}\→0}{\lim }\frac{-d\Π\left(\mathrm{\θ}\right)}{d\[{\sin }^2(\mathrm{\θ}/2)\]}\left(\frac{3{\mathrm{\λ}}^2}{4{\mathrm{\π}}^2}\right)=\frac{c_1}{c_0}\left(\frac{3{\mathrm{\λ}}^2}{4{\mathrm{\π}}^2}\right)$确定所述均方半径。