[发明专利]测量溶液中微小颗粒的结构的方法

权利要求书

1.一种测量主要包括单分散颗粒的样品分馏物中的颗粒的均方半径的方法，包括以下步骤：

A)通过细光束照射所述样品分馏物；

B)在n个散射角测量此样品散射的光；

C)通过最小二乘法将多项式函数拟合到在所述n个散射角收集的数据，推导所述函数，其中ξ＝sin²(θ/2)并且m≤n-1；

D)由此推导系数c₀,c₁,…,c_m；

E)形成函数Π(θ)＝f_m(ξ)/c₀；以及

F)根据<rg2>=limθ→0-dΠ(θ)d[sin2(θ/2)](3λ24π2)=c1c0(3λ24π2)]]>确定所述均方半径。

2.根据权利要求1所述的方法，其中所述细光束源自激光器。

3.根据权利要求1所述的方法，其中所述细光束被偏振。

4.根据权利要求1所述的方法，其中根据所述函数到所述n个散射角收集的所述数据的加权最小二乘法拟合，推导所述多项式函数。

5.根据权利要求4所述的方法，其中与每个收集的角散射强度I_i(θ_i)相关的此加权与成比例，其中σ_i是测量的I_i(θ_i)的标准差。

6.一种通过多角度光散射即MALS确定悬浮液中已知形状的单分散颗粒的尺度的方法，包括以下步骤：

A)通过细光束照射所述悬浮颗粒的样品分馏物，

B)在多个散射角测量从此类颗粒散射的散射光强度，

C)在区间0≤θ≤180°内，通过最小二乘法方式将所述散射光强度拟合到解析多项式函数f(θ)，如此，所述函数f(θ)被归一化，以使其值在θ＝0时为1.0，并使得其值在所有角度θ上为0≤f(θ)≤1，

D)计算所述解析函数在θ＝0时相对于sin²(θ/2)的斜率；

E)根据所述斜率推导所述散射颗粒的所述均方半径<r_g²>，以及

F)由此计算所述单分散颗粒的尺度。