[发明专利]一种芯片中坏块地址的跳转方法和装置有效
| 申请号： | 201510383253.6 | 申请日： | 2015-07-02 |
| 公开（公告）号： | CN105097004B | 公开（公告）日： | 2018-12-14 |
| 发明（设计）人： | 苏志强;丁冲;陈立刚;谢瑞杰 | 申请（专利权）人： | 北京兆易创新科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C8/04 | 分类号： | G11C8/04 |
| 代理公司： | 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 | 代理人： | 苏培华 |
| 地址： | 100083 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种芯片中坏块地址的跳转方法和装置，其中，所述芯片包括第零芯片裸片和第一芯片裸片，所述方法包括：将被访问的块的地址信息输入至所述第一芯片裸片；将所述第零芯片裸片中锁存的坏块的地址信息依次输出至所述第一芯片裸片；在所述第一芯片裸片中比对所述坏块的地址信息与所述被访问的块的地址信息，得到比对结果；根据所述比对结果进行坏块地址的跳转。本发明节省了芯片的面积，降低了芯片的制作成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 芯片 中坏块 地址 跳转 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种芯片中坏块地址的跳转方法，其特征在于，所述芯片包括第零芯片裸片和第一芯片裸片，所述方法包括：将被访问的块的地址信息输入至所述第一芯片裸片；将所述第零芯片裸片中锁存的坏块的地址信息依次输出至所述第一芯片裸片，其中第零芯片裸片有24组位宽为12bit的锁存器，芯片测试时，若发现存在超过24个坏块，则认为为废片，其中包括：通过所述坏块的地址信息在阵列中的列地址将所述第零芯片裸片中锁存的预设数量的所述坏块的地址信息依次串联输出至所述第一芯片裸片；在所述第一芯片裸片中比对所述坏块的地址信息与所述被访问的块的地址信息，得到比对结果；根据所述比对结果进行坏块地址的跳转。
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