[发明专利]用于单层电容的测试夹具有效

专利信息
申请号: 201510336379.8 申请日: 2015-06-17
公开(公告)号: CN104914278B 公开(公告)日: 2018-08-03
发明(设计)人: 高敬一;孟浩;周凯咨 申请(专利权)人: 江苏伊施德创新科技有限公司
主分类号: G01R1/04 分类号: G01R1/04
代理公司: 无锡盛阳专利商标事务所(普通合伙) 32227 代理人: 顾吉云
地址: 214028 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提供了用于单层电容的测试夹具,有效的解决了现有的夹具会对电容电极造成损伤和测试效率较低等问题,实现了对单层电容的无损测试及老化,简化了对单层电容在测试及老化环节的取放操作,提高了生产效率的提高,降低了设备成本,包括两个相互平行设置的电极板,其特征在于:所述电极板之间分别对应设置有探针,所述探针上下配合夹持单层电容,所述探针的探针端头的平面触点面积大于单层电容的电极面积。
搜索关键词: 电容 单层 探针 测试夹具 电极板 老化 夹具 测试 测试效率 电容电极 平行设置 设备成本 生产效率 探针端头 电极 触点 夹持 取放 无损 损伤 环节 配合
【主权项】:
1.用于单层电容的测试夹具,包括两个相互平行设置的电极板,其特征在于:所述电极板之间分别对应设置有探针,所述探针上下配合夹持单层电容,所述探针的探针端头的平面触点面积大于单层电容的电极面积;所述电极板分别包括基座,所述基座上分别对应设置有探针安装孔,所述探针对应安装在所述探针安装孔中,其中一个所述基座上设置有弹性探针,所述弹性探针的探针端头高于所述基座的平面设置,构成电极凸点;安装在另一个所述基座上的所述探针的探针端头低于所述基座的平面设置,在所述基座的平面上构成与所述电极凸点相对应的电极凹槽,所述电极凹槽能够容纳所述单层电容,所述电极凸点与所述电极凹槽配合夹持所述单层电容;所述电极凹槽的上部设置倒角;所述探针的探针端头的平面触点为圆形;两个所述基座相互接触的表面的四角上分别对应设置有定位梢和定位梢孔,所述定位梢和所述定位梢孔配合对所述基座定位,使得所述电极凸点与所述电极凹槽相对应;所述基座的外表面上分别安装有PCB电路板,每个所述探针的引出端分别焊接在所述PCB电路板上, 所述PCB电路板的一侧分别设置与所述PCB电路板的导线焊接连接的多路插头;所述探针的引出端分别通过所述PCB电路板的两条导线连接所述多路插头的两个插针焊点,每个所述探针连接所述多路插头的两个插针,使得所述电极板之间构成四线连接模式。
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