[发明专利]一种基于改进形态学的亚像素边缘检测方法在审
申请号: | 201510119986.9 | 申请日: | 2015-03-18 |
公开(公告)号: | CN104732536A | 公开(公告)日: | 2015-06-24 |
发明(设计)人: | 姜洪权;高建民;梁泽明;王宏叶;张雪微;张凡勇;刘文强;吴小泽;王慧娟 | 申请(专利权)人: | 广东顺德西安交通大学研究院;苏州科力迪软件技术有限公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00 |
代理公司: | 广州科粤专利商标代理有限公司 44001 | 代理人: | 孔德超;黄培智 |
地址: | 528300 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明提供了基于改进形态学的亚像素边缘检测方法,包括:获取产品的数字化图像;运用形态学算子检测所述数字化图像的轮廓,获得像素轮廓粗提取区域;采用Canny算子从所述像素轮廓粗提取区域中检测出产品的整体像素级边缘;通过理想边缘点与扩散函数卷积得到的高斯型边缘函数,将所述整体像素级边缘拟合为产品的亚像素级边缘。本发明对形态学的边缘检测算子做了改进,能够平滑图像轮廓边缘,更好的保持边缘细节,提高抗噪性能,并保留图像边缘信息、保持边缘的光滑性和连续性,由此比较准确地检测出图像边缘,保证原图像的连通性,缩小了图像边缘提取区域,提高处理速度。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 改进 形态学 像素 边缘 检测 方法 | ||
【主权项】:
基于改进形态学的亚像素边缘检测方法,其特征在于,包括:步骤A、获取产品的数字化图像;步骤B、运用形态学算子检测所述数字化图像的轮廓,获得像素轮廓粗提取区域,其表达式为其中,Grad表示像素轮廓粗提取区域,f代表数字化图像,S1表示开运算结构元素,S2表示膨胀和腐蚀结构元素;步骤C、采用Canny算子从所述像素轮廓粗提取区域中检测出产品的轮廓,进行粗提取,获得图像的整体像素级边缘;步骤D、通过理想边缘点与扩散函数卷积得到的高斯型边缘函数,将所述整体像素级边缘拟合为产品的亚像素级边缘。
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