[发明专利]一种利用绕射再聚焦识别小尺度地质体的方法与装置在审

专利信息
申请号: 201510106995.4 申请日: 2015-03-11
公开(公告)号: CN104730571A 公开(公告)日: 2015-06-24
发明(设计)人: 于彩霞;王彦飞 申请(专利权)人: 中国科学院地质与地球物理研究所
主分类号: G01V1/28 分类号: G01V1/28
代理公司: 四川君士达律师事务所 51216 代理人: 芶忠义
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种利用绕射再聚焦识别小尺度地质体的方法与装置,本发明方法根据地震成像数据获得反射界面倾角场;根据所述地震成像数据获得反射界面倾角场,由线性滤波算子,得出去除反射界面信息的剩余地震数据;由分离出的未完全聚焦的绕射波场,利用速度分析方法,重新对过偏移或欠偏移的绕射波进行偏移速度分析;根据所述剩余地震数据与剩余绕射波偏移速度,利用偏移算法,完成绕射波再次聚焦。本发明装置与方法相对应。本发明能够有效分离出串珠状岩溶、裂缝、小尺度断裂等与碳酸盐岩储层直接相关的小尺度地质体,该技术效果对石油工业界中油气资源储层评价具有很好应用价值。
搜索关键词: 一种 利用 绕射再 聚焦 识别 尺度 质体 方法 装置
【主权项】:
一种利用绕射再聚焦识别小尺度地质体的方法,其特征在于,包括以下步骤:S1、根据地震成像数据获得反射界面倾角场;所述地震成像数据包括反射信息与绕射信息;S2、根据所述地震成像数据获得反射界面倾角场,由线性滤波算子,得出去除反射界面信息的剩余地震数据,其中,所述剩余地震数据包含未完全聚焦的绕射波场;S3、由分离出的未完全聚焦的绕射波场,利用速度分析方法,重新对过偏移或欠偏移的绕射波进行偏移速度分析;S4、根据所述剩余地震数据与剩余绕射波偏移速度,利用偏移算法,完成绕射波再次聚焦。
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