[发明专利]一种电路板测试系统在审
| 申请号： | 201510089024.3 | 申请日： | 2015-02-27 |
| 公开（公告）号： | CN104614668A | 公开（公告）日： | 2015-05-13 |
| 发明（设计）人： | 贾淑绒;俞光炜;郑再平;苑利维;王一鹏;姜丽婷 | 申请（专利权）人： | 北京精密机电控制设备研究所;中国运载火箭技术研究院 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京骥驰知识产权代理有限公司 11422 | 代理人： | 唐晓峰 |
| 地址： | 100076 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种电路板测试系统，属于电子测量领域，其包括零槽控制器、PXI总线、PXI测试模块、测试接口以及被测电路板，所述零槽控制器用于所述测量试验台的控制、信号交互以及数据处理，PXI测试模块用于根据对被测电路板功能特性指标及参数进行测量，所述PXI总线用于所述零槽控制器与所述PXI测试模块之间的信号传输，所述测试接口用于安放所述被测电路板，所述零槽控制器通过所述PXI总线控制所述PXI测试模块对固定在所述测试接口上的所述被测电路板进行故障诊断和性能测试。本发明提供的电路板测试系统，能实现对PCB电路板的整体功能和性能的自动测试，且能够向测量人员提供测量报告，不仅测量周期短，而且测量结果精准。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电路板 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种电路板测试系统，其特征在于：包括零槽控制器(1)、PXI总线(2)、PXI测试模块、测试接口(4)以及被测电路板(5)；所述零槽控制器(1)用于所述测量试验台的控制、信号交互以及数据处理，PXI测试模块用于根据对被测电路板(5)功能特性指标及参数进行测量，所述PXI总线(2)用于所述零槽控制器(1)与所述PXI测试模块之间的信号传输，所述测试接口(4)用于安放所述被测电路板(5)，且将所述被测电路板(5)与所述PXI测试模块电导通；所述零槽控制器(1)通过所述PXI总线(2)控制所述PXI测试模块对固定在所述测试接口(4)上的所述被测电路板(5)进行故障诊断和性能测试。
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