[发明专利]一种电路板测试系统在审

专利信息
申请号: 201510089024.3 申请日: 2015-02-27
公开(公告)号: CN104614668A 公开(公告)日: 2015-05-13
发明(设计)人: 贾淑绒;俞光炜;郑再平;苑利维;王一鹏;姜丽婷 申请(专利权)人: 北京精密机电控制设备研究所;中国运载火箭技术研究院
主分类号: G01R31/28 分类号: G01R31/28
代理公司: 北京骥驰知识产权代理有限公司 11422 代理人: 唐晓峰
地址: 100076 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 电路板 测试 系统
【权利要求书】:

1.一种电路板测试系统,其特征在于:

包括零槽控制器(1)、PXI总线(2)、PXI测试模块、测试接口(4)以及被测电路板(5);

所述零槽控制器(1)用于所述测量试验台的控制、信号交互以及数据处理,PXI测试模块用于根据对被测电路板(5)功能特性指标及参数进行测量,所述PXI总线(2)用于所述零槽控制器(1)与所述PXI测试模块之间的信号传输,所述测试接口(4)用于安放所述被测电路板(5),且将所述被测电路板(5)与所述PXI测试模块电导通;

所述零槽控制器(1)通过所述PXI总线(2)控制所述PXI测试模块对固定在所述测试接口(4)上的所述被测电路板(5)进行故障诊断和性能测试。

2.根据权利要求1所述的电路板测试系统,其特征在于,

所述PXI测试模块包括:

一个或者多个数字采集模块(31),用于采集所述被测电路板(5)输出的检测信号;

数字激励响应卡(32),用于多路数字信号的测试与控制;

电压同步输出模块(33),用于向所述测试接口(4)输出多路电压;

多用表模块(34),用于通过所述测试接口(4)测量所述被测电路板(5)的直流电压、直流电流、交流电压、交流电流或者电阻;

通信模块,用于所述测试接口(4)与所述PXI总线(2)之间的数据交互和通信;

一个或者多个矩阵开关模块(36),用于控制所述测试接口(4)与所述PXI总线(2)之间的信号流向和电流向;

一个或者多个数字采集模块(31)、数字激励响应卡(32)、电压同步输出模块(33)、多用表模块(34)、通信模块以及一个或者多个矩阵开关模块(36)相互并联,一个或者多个数字采集模块(31)、数字激励响应卡(32)、电压同步输出模块(33)、多用表模块(34)、通信模块以及一个或者多个矩阵开关模块(36)的一端均与所述PXI总线(2)电性连接,另一端均与所述测试接口(4)电性连接。

3.根据权利要求2所述的电路板测试系统,其特征在于,

所述通信模块包括:

CAN总线模块(351),用于所述测试接口(4)与所述PXI总线(2)之间的分布式控制或者实时控制的串行通信;

1553B总线模块(352),用于所述测试接口(4)与所述PXI总线(2)之间的分布处理、集中控制以及实时响应的时分串行通信;

RS232串口模块(353),用于给所述测试接口(4)提供多个独立的串行通道;

RS485串口模块(354),用于给所述测试接口(4)提供多个独立的联网串行通道;

CAN总线模块(351)、1553B总线模块(352)、RS232串口模块(353)以及RS485串口模块(354)相互并联,CAN总线模块(351)、1553B总线模块(352)、RS232串口模块(353)以及RS485串口模块(354)的一端均与所述PXI总线(2)电性连接,另一端均与所述测试接口(4)电性连接。

4.根据权利要求2所述的电路板测试系统,其特征在于,

所述PXI测试模块还包括边界扫描模块;

所述边界扫面模块用于在调试状态下对所述零槽控制器(1)的输入和输出进行相应观察和控制,其一端与所述PXI总线(2)电性连接,其另一端与所述测试接口(4)电性连接。

5.根据权利要求1所述的电路板测试系统,其特征在于,

还包括GPIB总线(6);

所述GPIB总线(6)与所述PXI总线(2)电性连接。

6.根据权利要求5所述的电路板测试系统,其特征在于,

所述GPIB总线(6)与所述测试接口(4)之间可选择性的连接程控电源(61)、台式电源(62)、任意波发生器(63)、多个示波器(64)、逻辑分析仪(65)、电子负载(66)、温度传感器(67)以及仿真器(68)中的一个或者多个。

7.根据权利要求1所述的电路板测试系统,其特征在于:

所述测试接口(4)包括夹具、与所述夹具相配套的适配器盒。

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