[发明专利]基于像素选择过程的高光谱图像异常目标检测方法有效

专利信息
申请号: 201510079650.4 申请日: 2015-02-13
公开(公告)号: CN105989597B 公开(公告)日: 2020-05-12
发明(设计)人: 袁媛;王琦;马单丹 申请(专利权)人: 中国科学院西安光学精密机械研究所
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 倪金荣
地址: 710119 陕西省西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明提供一种基于像素选择过程的高光谱图像异常目标检测方法,包括以下步骤:1】对高光谱图像进行归一化预处理,并设定检测窗口尺寸;2】采用滑动窗口技术,获得待检测高光谱图像块X,X∈RN×D;其中,R是实数空间,N是图像块中的像素点数目,D是高光谱数据的光谱波段数;3】计算每个像素点Xi的重构误差εi;4】构建顶点‑边缘权重图;5】构建像素选择过程模型;6】重复步骤2】‑步骤5】,直至完成整幅高光谱图像异常目标的检测,获得最终的异常概率图。该高光谱图像异常目标的检测方法,解决了现有的检测技术需要对背景分布进行假设,适应性差,背景与目标的差异性不足,检测能力低的技术问题。
搜索关键词: 基于 像素 选择 过程 光谱 图像 异常 目标 检测 方法
【主权项】:
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